薄膜材料上的不均匀、条纹和划痕等难以区分的缺陷检测技术

发布日期：2022-04-20      浏览次数：825

薄膜材料上的不均匀、条纹和划痕等难以区分的缺陷检测技术

材料检测装置M-CAP V2是充分利用图像处理技术开发的平原地面外观检测装置。在保持传统易用性的同时，实现了更高的速度和更高的分辨率。除了检测针孔、异物污染和污垢附着等小缺陷外，我们不会忽略薄膜材料上的不均匀、条纹和划痕等难以区分的缺陷。

特征

• 无论安装位置如何，都可以灵活布局
  取消了一体机的主体控制面板，由各功能的组件构成。
  它提高了安装的自由度，有助于有效利用工厂空间。

• 追求用户友好的易用性
  采用液晶显示器和易于使用的对话方式，操作简单。

• 更新成像系统以实现高速和高分辨率通过
  采用新开发的数码相机，实现了高速传输过程中清晰的图像和微小缺陷的检测。

• 标配
  原装 LED 照明灯 采用实现高亮度和高显色性的LED 照明灯。
  也可以选择鱼眼（凝胶）和黑点，由于特殊的结构很难判断。

• 即使
  放大有缺陷的图像也能清晰显示通过利用人工智能的超分辨率技术，即使放大和显示有缺陷的图像，图像也不会变得粗糙。

• 通过广泛的数据管理进行有效的质量控制
  可以实时汇总每列和距离的缺陷数量，并且可以将数据输出为 PDF 文件。
  它还通过网络支持数据管理功能，有助于提高质量控制效率和生产力。

• 检查功能的显着扩展
  通过同时检查多达 5 个电路工艺，大大提高了检查性能。
  线性缺陷检测电路增强了对皱纹、薄膜裂纹、毛发、绒毛等的检测。
  此外，光缺陷检测电路增强了对大面积光斑和不均匀光斑的检测。

应用领域

• 应用
  薄膜、片材、无纺布、金属、各种涂膜等。

• 适配机
  贴膜、制片机等