半导体材料品质检测设备之目视检查灯YP-150I介绍

发布日期：2022-04-24 浏览次数：818

半导体材料品质检测设备之目视检查灯YP-150I介绍



是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導体晶片及液晶基板加工中費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、抛光不均、霧状、划傷等。

概要

　　1.　可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。

　　2.　因使用鹵素光源灯的光源，具有色温度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。


　　3.　冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3


　　4.　二段切換構造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。

日本sena lamp高照度卤素强光灯185FI手机屏幕检查灯



高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。

适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。

标准构成如下。

照度：照射距离　310mm、照射直径径　55mmφ时照度在　400，000　Lux以上）

光源：直流点灯　17V/185W　卤素灯

照度调整：连续可调至照度的　20%

冷却方式：强制空冷

使用温度范囲：0～40℃

电源电圧：AC　95V～AC　260V，50/60Hz

功率：250W

尺寸：光源　136mm　H×112mm　W×150mm　D

电源　229mm　H×90mm　W×250mm　D

重量：光源2.3kg

电源3.6kg

立杆5.0kg