铁金属材料的非磁性薄膜厚度测量技术

发布日期：2022-04-26 浏览次数：456

铁金属材料的非磁性薄膜厚度测量技术

便携式膜厚仪QNIx系列的特点

无需薄膜校准即可进行精确的薄膜厚度测量

出厂时输入16 点校准数据即可交付。
这消除了繁琐的薄膜校准工作，并实现了精确的薄膜厚度测量。

薄膜厚度测量数据传输新技术

在传统的测量仪器中，测量数据是通过用电缆连接仪器主体和个人计算机来传输的。QNIx 系列使用，只需将其插入 USB 端口即可进行传输。可以更快、更轻松地查看测量数据。

超轻量无线测量仪

探头测量的数据以无线方式传输到主机。与传统产品一样，它还降低了被电缆卡住、挡路和导致坠落事故的风险。此外，探头重30 克，超轻巧，因此您不必随身携带沉重的仪器。

不易折断且在被测物体上无痕迹的探头

QNIx 系列探头采用增强塑料包围，可将耐用性提高 30%。即使发生故障，也很容易拆卸和维修，因此缩短了维修周期。此外，附有红宝石前端，因此可以安全地进行测量，而不会损坏待测物体（样品）。

QNIx系列比较规格表

	QNIx 8500	QNIX 4500/4200	QNIx 7500	QNIX 验车 系统	QNIX Handy
可测量薄膜	[F] 铁材料上的非磁性涂层 [N] 非铁材料上的非磁性涂层 [FN] 铁/非铁材料上的非磁性/非导电涂层。			[FN]铁和非铁材料上的非磁性、非导电涂层。	[FN]铁铝材料上 的非磁性非导电 膜厚
材料识别	铁和非铁材料的 自动识别交换	铁和非铁材料的自动识别交换	用户规定的转换	铁和非铁材料的 自动识别交换	铁/非铁，自动 识别模式转换
测量原理	[F] 磁通量（霍尔效应） [N] 涡流
测量范围	0 至 2,000 μm （选项：5,000 μm）	0 ~ 3,000 微米	0 至 2,000 μm （选项：5,000 μm）	0 ~ 5,000 微米	0～500微米
分辨率	0.1 μm、1 μm [M] 0.01 μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0点校正 用户校准：1 [M]100个	0点校正	0点校正	无校准功能	无校准功能
准确性	± (1 μm + 2%) ± 3.5% (2 mm 或更大) [T] ± (0.3 μm + 2%)	± (2 微米 + 3%)	± (1 微米 + 3%)	± (1 μm + 2%) ± 3.5% (2 mm 或更大)	± (10 微米 + 5%)
测量速度	(约40次/分钟) [T] 920ms (约65次/分钟) [R] 1,600ms	600ms（约70次/分钟）	1,300ms（约46次/分钟）	1,500ms（约40次/分钟）	600ms（约100次/分钟）