光学元件扫频测试系统的检测数据分析

发布日期：2022-08-22 浏览次数：421

光学元件扫频测试系统的检测数据分析

扫频测试系统

结合可调谐激光器（TSL系列）、功率计（MPM）、偏振控制单元（PCU-110）和定制软件，对研发和生产线上的IL/WDL/PDL进行高效测量和评估。您可以做到。

多站测量

通过将扫描测试系统与多分支单元相结合，可以进一步提高检查和评估的效率。

测量 超过 80 dB 的高动态范围测量

Thorlabs 的TSL 系列可调谐激光器采用创新的腔体设计，可降低光学 ASE 噪声，实现非常高的信噪比和高光输出功率。因此，该系统可以在多个端口同时评估具有高动态范围特性的光学元件的特性。
下图分别显示了 CWDM 滤波器和陷波滤波器（例如 FBG）的测量数据。









高波长精度 +/- 3 pm

由于TSL 系列标配波长监视器，因此可以高精度测量光学元件。
下图显示了乙炔（12C2H2）气体在测量波长处的吸收线，可以看出以高的测量精度进行了测量。





小于 0.1 pm 的高波长分辨率

该系统可以测量具有高波长分辨率的 WDL 和 PDL，不仅适用于 WDM 光学元件，还适用于窄线宽滤波器。
图中显示了超高 Q 电容器件的测量，可以看出可以在 0.1 pm 或更小的分辨率下进行测量。






软件（LabVIEW。/ Visual Studio / Phython）

在多站测量系统中，可调谐激光器、偏振控制器和多分支单元充当服务器，光和触发信号从中分离并发送到每个站。每个站仅由一个功率计和一台 PC 组成。

在测量过程中，服务器的可调谐激光连续扫过规定范围。因此，每个站都可以在任何时间独立于其他站进行测量。

这样，该系统可以在保持高精度特性的同时，进一步提高检测和评估的效率。