X 射线荧光分析原理及特点
当样品被初级 X 射线照射时,电子被 X 射线的能量翻转,原子被激发。外层电子落到那里,发射出与能量差相对应的荧光X射线。定性分析是可能的,因为此时产生的荧光 X 射线具有元素有的能量。也可以从荧光 X 射线的强度进行定量分析。
无损分析
易于测量
快速测量结果
易于预处理
可以进行广泛的元素分析
不受化学状态影响
可进行现场分析
分析过程中不会破坏样品
预处理和测量很容易,任何人都可以进行分析。
快速测量结果降低分析成本
能够在宽浓度范围内进行定量和定性分析
可以进行广泛的元素分析
不受化学状态影响
环保,因为不使用任何化学物质
运用示例
土壤中的重元素分析
焚烧灰、工业废物、废水、粉尘、电镀液、污泥
RPF、砾石、炉渣等的分析
电子元件中有害重金属的测量
半导体和磁盘的薄膜厚度测量
电极多层厚度和结构分析
电子零件镀层厚度和结构的分解
矿石勘探
粘土矿物、土壤、岩石和回收材料的分析
分析果树和烟草等植物的叶子
钢铁、有色金属
冶炼渣分析
焊锡、贵金属、合金、有色金属的主要成分杂质分析
催化剂和涂料的分析
重油中 S、V 和重金属的分析
润滑油中添加元素分析
颜料和防锈剂的成分分析
医药原料、中间产品、成品分析
材料/零件材料的判别分析
表面处理剂分析
表面膜厚测量
埋藏文物和黑曜石的 Sr/Rb 分析
评估珠宝、绘画和艺术品
贵金属配件分析
探索机场和海关
法医判断分析
食品中异物及添加剂分析
食品容器的杂质分析
陶瓷、水泥、玻璃和油漆的成分分析
打印机彩色墨水的管理与分析
塑料中的硅分析
砖和粘土的分析