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不锈钢中不同材料的区分示例分析
该设备由高压发生器、分光头、计数电路、使用液晶触摸屏的CPU系统和样品室组成。X 射线源是一种节能风冷紧凑型 X 射线管。分光头由双曲面环形LiF和毛细管组成，具有可在CPU控制下更换每个激发源的结构。光谱头和样品室由4μm厚的聚合物膜隔板隔开，头内部保持数Pa的真空，样品置于空气中。结果，减少了由空气引起的散射辐射，并且可以容易地进行测量。X射线探测器采用高分辨率硅漂移探测器（SDD），无需液氮，计数率高。探测器元件采用两级珀耳帖元件冷却，冷却温度控制在-20±0.5℃。计数电路使用紧凑型数字信号处理器 (DSP)。CPU部分采用液晶触摸屏，无需安装空间，操作简单。为了用环形单色仪对初级 X 射线 Pd-Kα 射线进行单色化和聚焦，需要以良好的激发效率和良好的 P/B 比分析过渡金属、Mo 和 Pb 等。
X射线管：风冷钯靶
kV-mA：40-1（Pd-Kα单色光束）
测量时间：100秒
检测器：SDD（元件冷却：-20°C，Mn-Kα射线能量分辨率：160 eV以下）
在钢种鉴别的情况下，由于样品测量表面并不总是平坦的，因此通过取样品的一次 X 射线与散射 X 射线的比率进行校正。首先分析铸锭标准样品的平面。Cr-Kα线、Ni-Kα线和Mo-Kα线用于测量光谱。图1-1为各光谱线的校准曲线与散射X射线的比值校准曲线。两条校准曲线获得了几乎相同的结果。图1-2显示了样品圆柱面（侧面，直径约40mmφ）的测量结果，结果与平面几乎相同。接下来，1-3 显示了使用 Cr-Kα 和 Mo-Kα 射线研究距离特性的结果。X 射线分析值在距参考物 1、2 和 3 mm 距离处与散射 X 射线的强度比相比，Cr 的最大误差为 1.41wt%，Mo 的最大误差为 0.06wt%位置。Cr 和 Mo 的检测下限分别为 0.0063wt% 和 0.0009wt%。
由以上结果可知，通过使用OURSTEX100F获取散射X射线的强度比，能够以充分的精度获得钢种判别。这被认为是由于环形光谱仪将来自 X 射线管的初级 X 射线会聚到样品表面上 2-3 mmφ 的效果。预计该紧凑型装置将在未来有效地用作简单钢型鉴别的异物鉴别装置。
能量色散X射线荧光光谱仪“OURSTEX100FA"
