分析塑料中镉的形状和厚度校正方法

发布日期：2022-09-19 浏览次数：387

分析塑料中镉的形状和厚度校正方法

在分析塑料中的镉(Cd) 时，由于 Cd (Cd-Ka: 23.2 keV) 的荧光 X 射线能量很高，因此产生的荧光 X 射线的强度会因样品的厚度和形状而异。（如果样品基体是氯乙烯等，饱和厚度约为5mm。）由于样品厚度和形状引起的Cd强度变化直接反映为分析误差。然而，在实际测量现场很难统一分析样品的厚度和形状。因此，我们能够通过使用样品产生的散射辐射的校正方法来校正形状和厚度。

测量条件

设备：OURSTEX150RoHS

探测器：硅漂移探测器（SDD）

管电压/电流：48kV-AUTO

测量时间：100秒

测量结果

样品厚度

使用250ppm 氯乙烯片材标准样品（厚度 2mm）。将此表的两到三张重叠并分析，并进行比较有无校正。
结果如表1所示。校准曲线是用一张纸创建的。



如果不进行校正，定量误差会随着张数的增加而反映出来，但结果表明，通过校正可以减小样品厚度的影响。

样品形状



在测量导线涂层时，样品的曲面形状和内腔的影响会导致Cd 的量化误差。

表2显示了导线涂层（图 1）和 ICP 之间的相关性。



概括

采用散射辐射校正方法，对各种样品形状和厚度的样品都取得了良好的效果。

推荐设备

能量色散X射线荧光光谱仪“OURSTEX160RoHS”