densoku电解膜厚计的原理分析

发布日期：2022-11-07 浏览次数：264

densoku各类膜厚计的原理

镀膜厚度是通过阳极电解法溶解镀膜来测量的。（阳极电解电路见图1。）在镀膜结束时，由于测量部分被恒流溶解，膜金属消失，当金属出现时，阳极电压发生变化，检测到此电压变化以结束测量。（见图2）



电解膜测厚仪的特点

• 虽然是破坏型测量，但可以通过简单的测量进行测量，也可以测量多层镀层。

• 可测量双镍和三镍各层的膜厚和电位差

• 可以分别测量在铜上镀锡时形成的纯锡层和合金层的厚度。

• 可测量 X 射线无法测量的厚多层镀层（最大 300 μm）

• 通过使用电线测试仪，可以测量细电线上的镀膜厚度。

使用示例

• 镀锡线（镀锡铜线）纯锡层厚度测量

• 汽车外饰件用Cr/Ni/Cu三层镀层
  测量，Ni镀层用双镍/三镍电位差测量

• 对无损膜厚计的测量进行交叉检查

相关产品介绍



电解膜厚测试仪 GCT-311

电解膜测厚仪CT-6

电解膜测厚仪CT-3