正电子寿命谱仪 (PSA)的原理分析

发布日期：2022-11-30 浏览次数：420

正电子寿命谱仪 (PSA)的原理分析



产品概要

• 这是一种可以使用正电子评估亚纳米尺寸（原子级）的微小缺陷和空隙的方法。

• 正电子寿命测量是一种能够使用正电子评估亚纳米尺寸（原子级）微缺陷和空隙的技术。

本装置应用实例

• 喷丸质量检查

• 金属疲劳损伤评估

适用于

• 钢、铝、钛等各种金属

• 非晶态材料，例如玻璃和聚合物

• 测量深度距表面约50μm（钢材）

*与产业技术综合研究所共同开发

正电子寿命法原理



• 图1是正电子进入金属材料并湮灭的示意图。
  正电子寿命测定法是准确测定正电子产生时放出的γ射线与电子对湮灭时产生的γ射线的时间差（正电子寿命）的技术。材料中空位越多，位错密度越高，正电子寿命越长。

• ■所谓阳电子

• 带正电荷的电子“反粒子"。与电子相遇就会对消失γ放出线。

• ■所谓正电子寿命

• 是指正电子与电子相遇并消失之前的时间（寿命）。正电子寿命取决于电子密度，空隙尺寸越大，电子密度越低，所以正电子寿命会更长。

常用规格

正电子源	Na-22 (~1MBq)
计数率	约 100 厘泊
测量范围	40 ns（对于金属、半导体和聚合物）
附属设备	・HDO4024（Teledyne LeCroy DSO）、 （HDO4024 尺寸 W400 × L132 × H292 [mm]） ・特殊程序 ・笔记本电脑等。