利用磁光效应可视化磁场技术

发布日期：2022-12-29 浏览次数：364

利用磁光效应可视化磁场技术

使用磁光效应可视化磁场的简单方法是在光源和样品前后放置两个偏振器，如图 2 所示。



这两个偏振器通常称为样品前面的偏振器和后面的检偏器。使用法拉第旋转角、偏振器角度和分析器角度确定通过样品和分析器的光强度



表示为

图 3 是绘制了当偏振器角度为 0 度时光强度与分析器角度的关系图。当偏振器和检偏器之间的角度设置为 90 度时，即正交条件，光强度取局部最小值。此时，当偏振面因法拉第效应而旋转时，透射光的强度增加。因此，在观察磁畴时，将检偏器的角度从90度偏移数度，即可得到法拉第转角的正负，作为明暗对比。



这种方法被称为正交检偏器法，因为起偏器和检偏器几乎成90度。在测量椭圆率时，使用所谓的磁圆二色性，它对顺时针和逆时针旋转具有不同的吸收。在这种情况下，简单的光学系统是光源和圆偏振器（或偏振器和四分之一波片）。

以磁畴的观察为例进行具体说明。图 4 解释了使用法拉第旋转角和法拉第椭圆率的磁畴结构方法的原理。



在(a)的法拉第旋转角的情况下，当入射直线偏振光时，偏振面根据磁畴的方向左右旋转并透射。此时，如果将检偏器配置为阻挡透过一个磁畴的光，则可以透过透过相反磁畴的光的偏振面。结果，可以通过明暗观察磁畴的方向。

另一方面，当使用(b)的椭圆率时，当入射光为圆偏振时，磁畴被观察为明暗对比，因为吸收取决于磁化方向而不同。在这种情况下，不需要分析器，如图所示。然而，在这种状态下，对比度通常较低，因为它仅测量吸收强度。因此，为了获得高对比度，需要用左右圆偏振光获取图像并取差值。

一种利用磁光效应使磁场可视化的薄膜材料。我们有以下产品。



高残留型是即使去除对MO成像板施加的磁场，可视化的磁场图像也残留的类型。