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光纤式非接触式位移计PM-E测量原理分析

  • 发布日期:2023-02-09 浏览次数:311
    • 光纤式非接触式位移计PM-E测量原理分析

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      PM-E是一种通过光纤将光照射到被测物体并检测反射光,从而可以轻松地以非接触方式测量物体位移的装置。被测物体的反射光量随被测物体与光纤探头端面的距离(间隙)的不同而不同,如下图所示。此时反射光相对于图中Ⓑ(前坡)和Ⓓ(后坡)区域的间隙几乎呈线性变化,因此这些区域被用于位移测量。
      由于一个单元具有两个位移检测特性,您可以在需要高分辨率的测量中使用前斜率,在需要宽测量范围的测量中使用后斜率。此外,Ⓐ(光峰位置)对位移的敏感度低,因此可用于检测被测物的表面状况和缺陷。

      它是一种通过光纤将光照射到被测物体并检测反射光,从而实现位移和振动的高速非接触变化的装置。
      由于它利用光进行测量,因此被测物体上没有负载,不受磁场或电场的影响。
      追求小型化和简单化的“PM-E"是一款满足研发和各种工业领域广泛要求的产品。
      • ・完quan非接触式,可广泛用于测量振动、位移、表面状态等。

      • ・抗电磁干扰,可进行微点测量

      • ・因为前斜面和后斜面都可以使用,所以可以同时实现高灵敏度和宽范围。

      • ・维护简单快捷,费用低


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