japansensor温度计在电气和半导体相关应用示例分析

发布日期：2023-03-15 浏览次数：254

japansensor温度计在电气和半导体相关应用示例分析

1.激光加热



激光加热高速焊接小点，但要进行质量控制。

高速焊接、淬火、切割、焊接等时需要测量温度。

选择模型的要点

用于激光伴随轴的辐射温度计FTKX系列，FLHX系列和TMHX-TME系列，由于测量波长为1.95~2.5μm，因此不易受到YAG激光器等主要激光器的干扰。

这样可以进行精确的温度测量。

此外，0.001 秒的高速响应时间能够可靠地捕获微小的温度变化。

此外，从低温到高温，种类繁多。

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• 1ms光纤型半阶型，可在恶劣环境和狭窄空间内自由使用

  

  光纤型辐射温度计FTKX系列

  测量温度范围：100°C ～ 2000°C

• 纤维类型（耐热性和耐磁场性）

• 高温

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速响应

• 用于金属

• 1ms辐射温度计，其规格可根据要测量的对象而改变

  

  无纤型辐射温度计FLHX系列

  测量温度范围：90°C ～ 2000°C

• 高温

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速响应

• 用于金属

• 快速响应的金属温度测量

  

  金属辐射温度计
  TMHX-TME0050（H）系列

  测量温度范围：50°C ～ 600°C

• 用于金属

• 低温

• 用于石英

• 快速响应的金属温度测量

  

  金属辐射温度计TMHX-TME0050（E）系列小头型

  测量温度范围：50°C ～ 600°C

• 用于金属

• 低温

• 用于石英

• 【可视化】激光光辐射温度计

  

  激光测光仪温度计

  测量温度范围：140°C ～ 3000°C

• 微积分

• 高温

• 用于金属

• 0.1ms/1ms快速响应

• 激光测光仪温度计

2.硅单晶上拉装置的温度控制



在坩埚中熔化多晶硅时的温度控制，以及晶种后旋转时的温度控制。

从提升设备的视口进行温度测量。

选择模型的要点

对于硅温度测量，最好在1.1μm或更小的波长处测量温度，其中发射率变化很小，温度变化很小。

FTKX系列和FLHX系列是理想的选择，因为它们有多种长距离和小光斑类型（φ0.15~）。 光纤头结构紧凑，耐热温度为150°C，因此即使环境温度有点高也可以安装。

由于它是头分离型，因此不需要采取防止辐射热的措施。

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• 1ms光纤型半阶型，可在恶劣环境和狭窄空间内自由使用

  

  光纤型辐射温度计FTKX系列

  测量温度范围：100°C ～ 2000°C

• 纤维类型（耐热性和耐磁场性）

• 高温

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速响应

• 用于金属

• 1ms辐射温度计，其规格可根据要测量的对象而改变

  

  无纤型辐射温度计FLHX系列

  测量温度范围：90°C ～ 2000°C

• 高温

• 用于石英

• 0.1ms/1ms快速响应

• 用于金属