小型便携式表面轮廓轮廓仪4D技术“NanoCam Sq"
传统的相移干涉仪使用压电陶瓷元件来移动参考表面并捕获干涉条纹的图像。 以计算相位分布。 单次测量至少需要 100 毫秒或更长时间。 在这两者之间,干涉条纹由于干涉仪和测量样品之间的相对振动和空气波动而波动。 这可能会导致测量误差。 为了防止这种情况,需要光学面板,隔振装置,挡风玻璃等。 因此,我们别无选择,只能排除不能采取此类措施的测量目标。
4D技术的动态干涉仪通过动态干涉测量解决了这些问题 这是一个革命性的制度。
“动态干涉测量"不会机械移动参考平面,单张可捕获4幅图像 获得了罗姆的相移干涉图像。 对单个相机的每个像素执行相移。 可以持续收集数据,测量时间可以减少到30微秒。 因此,在干涉图像因振动等原因而发生变化之前,测量在瞬间完成。这使得在振动不可避免的环境中进行测量,以及测量远处的样品和移动物体成为可能。 可以在固定或腔室中进行环境测试期间测量样品。
纳米摄像头平方应用示例
具有超快干涉测量的表面观测系统 “动态干涉测量" 4D Technology的“动态干涉测量"超快干涉测量,具有100微秒标准。 即使在无法避免振动的地方也可以进行测量。
轻巧紧凑
的设计,机身尺寸约为24×24×8厘米,重量约为4.6公斤。 它非常便携,可以携带在要测量的物体附近进行接近测量。