densoku的原理及特点分析

发布日期：2023-09-10      浏览次数：149

densoku的原理及特点分析

电解膜厚仪测量原理

膜厚是通过阳极-阴极电解法熔化镀膜来测量的，这是一种应用“定律"测量镀层厚度的方法。（阳极电解电路见图1。）在镀膜结束时，测量部分以恒定电流熔化，因此膜金属消失，当底层金属出现时，阳极电压发生变化，这个电压检测到变化，测量结束。 待办事项。（见图2）





电解式膜厚仪特点

• 虽然是破坏性测量方法，但测量简便，可以测量多层电镀。

• 可测量双镍、三镍各层膜厚及电位差

• 可分别测量纯锡层和镀锡铜时形成的合金层的厚度。

• 能够测量X射线无法测量的镀层厚度（最大300μm）。

• 通过使用电线测试仪，可以测量细电线上的电镀膜厚度。

使用示例

• 测量镀锡线（镀锡铜线）上纯锡层的厚度

• 汽车外饰件中Cr/Ni/Cu三层镀层的测量，以及Ni镀层中双镍、三镍电位差的测量。

• 无损膜厚计测量的交叉检查

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