发射率测量仪TSS-5X-3在半导体材料涂层上的运用

发射率测量仪TSS-5X-3在半导体材料涂层上的运用

使用发射率计 TSS-5X-3，您可以轻松测量室温下样品的发射率。发射率值以数字方式显示，方便查看，操作简单。

量化材料表面处理的细微差别

TSS-5X-3 可让您轻松测量室温下的发射率。
样品的发射率以数字方式显示，方便查看，操作方便。

它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域，包括空间、半导体和核电。

TSS-5X-2 已更新为 TSS-5X-3。

涂装检查员、工程师和其他人使用各种检查仪器来验证表面制备和涂料施工结果是否符合项目规范或涂料制造商的规定。这些仪器大多需要与制备好的和/或涂漆的表面发生接触。一个例外是使用非接触式的红外测温仪来获取表面的温度，该测温仪可能配备或不配备激光指示器。根据仪器制造商的描述，发射率可以根据被测表面的类型来进行调整。这篇简短的文章内容包括对发射率的描述，它如何因不同表面类型而发生变化，表面粗糙度和距离（与表面）如何影响发射率，使用发射率测量表面温度的设备，非接触式红外温度计的优点和局限性，以及年度校准的重要性。

发射率是衡量一个物体发射红外能量的能力；发射的能量表明物体的温度。例如，红外测温仪（"红外枪"）在扣动扳机时发射红外能量；从表面反射的能量被测温仪读取为温度（单位：°F或°C）。发射率的范围从0（镜面）到1.0（平的黑色表面）；大多数油漆表面的发射率值接近0.95。

产品特点

• 量化材料表面处理的细微差别

  通过了解发射率，您可以提高加热设备的辐射效率，设计强调散热和隔热的材料，还可以用于节省能源。

  TSS-5X-3使用两种类型的参考件（发射率0.06和0.97），其参考发射率是预先已知的，并且可以在室温下轻松测量，无需加热样品。

  它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域，包括空间、半导体和核电。

• 测量原理

  

  红外线被样品反射，一部分红外线通过半球形黑体炉顶部的小孔进入。
  检测元件以恒定速率检测该能量。