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光学应用测量-FFP 测量装置介绍

  • 发布日期:2023-11-08 浏览次数:166
    • 光学应用测量-FFP 测量装置介绍

      FFP(远场方向图)测量设备是测量半导体激光器、光纤、光波导、光模块等FFP(远场方向图)的设备。

      光学系统采用我司的FFP测量光学系统M-Scope type F,结合我司的各种光电探测器和光束分析模块AP013,可用于测量各种光学器件的FFP、辐射角分布、输出NA。用于分析。

      通过选择光电探测器,可以构建从可见光范围到1550nm近红外波段的各种光通信系统。

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      产品特点

      • 使用FFP 测量光学系统 M-Scope F 型

        • 专用光学系统+图像处理分析方法。易于调整,可在各个角度快速分析 FFP。

        • 长工作距离设计,工作距离约6mm。

        • 有两种型号配备增透膜:一种适用于可见光范围,另一种适用于近红外范围。

          • 近红外区域(650~1700nm波段增透膜产品):M-Scope type F

          • 可见光范围(400~650nm波段增透膜产品):M-Scope type F/BL

      • 通过选择光电探测器,可以进行从可见光范围到近红外范围的测量。

        • 400~1100nm:高精度CMOS探测器ISA071、ISA071GL

        • 950~1700nm:InGaAs高灵敏度近红外探测器ISA041H2

        • [新] 400~1700nm:InGaAs高分辨率近红外探测器 ISA041HRA

      • 光束分析模块AP013,包括分析装置、光束分析软件、检测器驱动器和校正数据。

        • 多合一包装允许安装后立即使用。

        • Optimetrics BA Standard,专为光束轮廓测量而开发的光束测量和分析软件

          • 我公司自主研发的用于测量光束轮廓的图像处理和分析软件。还支持EF/EAF测量功能。


      产品主要用途

      • 各种光器件、光模块的FFP测量与分析

        • 半导体激光器、光纤、光波导和光模块的 FFP 分析

      • 各种光学器件和光学元件的NA测量和分析

        • 光纤、光布线波导、蝶形模块等的NA分析。

      • 多模光纤环向角通量分析

      产品配置/元件选择

      设备配置图
      元件选择
      • FFP 测量光学系统 M-Scope type F 系列选型

        • 650~1700nm:FFP测量光学系统M-Scope F型

        • 400~650nm:用于蓝色 M-Scope F/BL 型的 FFP 测量光学系统

        • 红外高分辨率 FFP 光学系统 M-Scope 型 FHR

          • 这是一款专用于1310~1550nm波段的红外高分辨率FFP测量光学系统。

      • 探测器

        • 400~1100nm:高精度CMOS探测器ISA071、ISA071GL

        • 950~1700nm:InGaAs高灵敏度近红外探测器ISA041H2(红外激光光束轮廓测量推荐型号)

        • 400~1700nm:【新】InGaAs高分辨率近红外探测器 ISA041HRA (SXGA)

        • 仅 M-Scope 型 FHR:VGA 型 InGaAs 高灵敏度近红外探测器 ISA041VH

      • 光束分析模块AP013

        • 数据处理装置主机、检测器驱动器、光束测量分析软件Optometrics BA Standard、校正数据

      • 配件

        • 附带电缆、手册等

        选项/配件选择
        • ND滤镜

          • 可见光(400~700nm):NDF-5

          • 近红外(700nm~1100nm):NDF NIR-5

          • 红外(1310nm~1550nm):NDF IR-5

        • 光学系统安装座

          • 用于光纤测量的光学系统支架

          • 垂直光学系统安装架

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        • 我们还拥有各种光学测量系统和光学测量设备,可用于各种其他目的和应用。



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