SNK粒子数测量技术分析

发布日期：2024-01-25 浏览次数：45

SNK粒子数测量技术分析

光学薄膜监测技术是利用粒子可视化技术高速、实时测量粒子数量的技术。

[1] 使用粒子可视化系统

静态计数法

使用图像处理软件包附带的“ParticleEye"从粒子的可视化图像中提取静止图像后，使用软件包附带的“ParticleEye SCF"对它们进行计数。

动态计数法

该方法使用可选软件“ParticleEye DCF"在可视化现场进行实时计数。您还可以在录制可视化视频时进行计数。


ParticleEye DCF（视频）

[2] 使用专门计数的系统

移动可视化计数装置“Type-S"

这是一种移动式计数设备，易于现场使用，可让您在查看手头的监视器的同时快速调查灰尘源和泄漏点。详情请参阅Type-S 页面。


S型

颗粒物产生量评价装置“P-Wind®"

可以定量评估清洁环境中使用的产品的发尘量和生产设备的机械元件的异物泄漏情况。可以精确地检测和计数整个数量，而不会遗漏哪怕是最少量的颗粒。这是一种有别于传统吸力式计数器的新型计数评价装置。详情请参阅P-Wind 页面。


P-Wind（图片）

[3]构建新的计数系统

我们可以单独承建应用可视化技术的新型颗粒物检测和计数系统。请随时与我们联系。
下图是一个可以实时检测液体中细小颗粒的系统示例。还可用于监测化工管道等内流动的液体中的异物。


液体颗粒物监测系统（图）