反射率测量装置MSP-100在光学薄膜上的运用

发布日期：2024-04-01      浏览次数：207

反射率测量装置MSP-100在光学薄膜上的运用

光学薄膜的光学性质和功能是通过干涉作用改变光在光学元件表面的特性，获得所需要的反射率或者透过率。

“测试方法"是光学薄膜制备中极为重要的一环，它的评价和反馈机制保证了产品的最终光学性能，其中最为基本和关键的是反射率和透过率测试。本期主要为大家介绍光学薄膜的反射率测试。

反射率测量装置MSP-100

以未有的低成本实现微小区域、曲面和超薄样品的高速、高精度测量



• 通过使用特殊的半反射镜，可以切断背面反射的光，无需背面处理即可在短时间内进行精确测量。
  （可测量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物镜时）

• 还可以测量镜片曲面和涂层不均匀度。（在样品表面连接微小点（φ50μm））

• 即使是低反射率的样品也可以在短时间内进行测量，并且具有高重复性。（光学设计捕获最大量的光，并通过512元件线性PDA、内置16位A/D转换器和USB 2.0接口实现高速计算实现快速测量。）

• 可以进行色度测量和L*a*b*测量。可以使用光谱比色法根据光谱反射率来测量物体。

• 数据可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

• 单层薄膜可以非接触式、非破坏性地测量。

• 具有在同一屏幕上显示多个测量结果的功能。轻松比较测量结果。

规格

型号	MSP-100
测量波长	380～1050nm
测量重复性	±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm)
样品面 NA	NA 0.12（使用 10 倍物镜时）
样品测量范围	φ50μm（使用10倍物镜时）
样品曲率半径	-1R~-无穷大, +1R~无穷大
显示分辨率	1纳米
测量时间	几秒到十几秒（取决于采样时间）
外形尺寸	(宽)230×(高)560×(深)460mm（仅机身）
工作温度限制	18～28℃
工作湿度	60%以下（无凝露）