量化材料表面处理的细微差别-发射率测量仪TSS-5X-3

量化材料表面处理的细微差别-发射率测量仪TSS-5X-3

使用发射率计 TSS-5X-3，您可以轻松测量室温下样品的发射率。发射率值以数字方式显示，方便查看，操作简单。






量化材料表面处理的细微差别

TSS-5X-3 可让您轻松测量室温下的发射率。
样品的发射率以数字方式显示，方便查看，操作方便。


它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域，包括空间、半导体和核电。

TSS-5X-2 已更新为 TSS-5X-3。

■更新要点

① 更换交流电源入口
供电区域重新设计，改为通用交流电源入口。
现在可以更换电源线以适应不同的国家/地区。
除此之外，电源开关和保险丝盒也集成在一起。
外观更加干净，可用性也得到了提高。

②您可以根据您的目的地选择电源线，
请从下表中指适合您所在国家/地区的电源线。
*价格不会根据电缆类型而变化。

产品特点

• 量化材料表面处理的细微差别

  通过了解发射率，您可以提高加热设备的辐射效率，设计强调散热和隔热的材料，还可以用于节省能源。

  TSS-5X-3使用两种类型的参考件（发射率0.06和0.97），其参考发射率是预先已知的，并且可以在室温下轻松测量，无需加热样品。

  它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域，包括空间、半导体和核电。

• 测量原理

  

  红外线被样品反射，一部分红外线通过半球形黑体炉顶部的小孔进入。
  检测元件以恒定速率检测该能量。