适用于φ0.4以上微小区域的温度测量设备介绍

适用于φ0.4以上微小区域的温度测量设备介绍

KTL系列

这是一款高速响应、高精度的红外辐射温度计，适用于φ0.4以上微小区域的温度测量。其用途广泛，包括真空加热炉的温度控制、芯片钎焊、模具温度控制以及利用其高速响应的高频加热线的温度控制。

特征

可测量直径0.4mm以上的微小区域。 高速响应快至0.01秒。 可以通过玻璃进行测量。 标准配备 3 个输出：RS-232C、0-10[V]、4-20[mA]。 标准配备Windows温度测量软件。 除正常峰值保持外，还配备自动重置峰值保持。 在线温度控制也很容易。

规格

模型	KTL- PRO	KTL- PRO -04	KTL- 零-A	KTL- 零-B	KTL- 零-A- 04	KTL- 零-B -04
温度测量范围	200～ 2000℃	300～ 2000℃	500～ 3000℃	200～ 1200℃	700～ 3000℃	300～ 1200℃
显示部分	取景器和侧面板内部（数字显示）
测量模式	连续测量、峰值测量（2路）、谷值测量（2路）、保持
测量精度	±1%(ε=1.0)
再现性	±1℃(ε=1.0)
发射率 设定范围	0.10~1.00（0.01步长）
响应速度	0.01~1.00秒可变
传感器	砷化镓		硅	砷化镓	硅	砷化镓
测量波长	1.6μm		0.9μm	1.6μm	0.9μm	1.6μm
外部输出	RS-232C（标准） DC0-10V（标准） DC4-20mA（标准） 蓝牙（可选）
光学系统	同轴单反方式 测量角度：0.45° 调焦范围：270mm 至 ∞
工作电源	DC10~15V（使用手柄时） AC85~264V 30VA（配备交流适配器时）
工作温度限制	0～50℃
尺寸/重量	W278×H103×D76mm / 1.4kg（仅机身）
软件运行环境	Windows7,8,10