适合低通滤光片和蓝色滤光片晶体板纹理不均检查技术介绍

发布日期：2024-05-27      浏览次数：268

适合低通滤光片和蓝色滤光片晶体板纹理不均检查技术介绍

用监视器目视观察光学元件的光学不均匀性的装置。

该检查装置是将水晶板、玻璃等透明物体内部的条纹、表面的抛光不均、抛光痕迹可视化的装置。非常适合检查低通滤光片和蓝色滤光片的晶体板。

观察到的图像背景中有微弱的斑驳图案。这是由于安装的镜头等光学元件的表面抛光造成的，会妨碍观察。专用软件“ClearBack"使背景清晰，检查更轻松。有一种称为纹影法的观察方法可以可视化折射率的变化，但该装置的观察方法是阴影图法。这可以防止由于刀口处发生干扰而导致图像变得模糊。









检查方法	阴影图法，顾名思义，就是“阴影图"。从点光源发出的光被一个透镜转换成平行光，然后被下一个透镜会聚以拍照。如果将有条纹等缺陷的样品放置在两个透镜之间，平行光就会受到干扰，导致图像中出现亮度不均匀的区域。
观察范围	约φ45mm
光源	高亮度蓝光LED
测量波长	450-465nm
有效像素	1080(水平)×824(垂直)
调光功能	音量调暗
外形尺寸（主体）	水平（标准）W1030 x D160 x H205mm 垂直（可选）W380 x D455 x H1245mm
体重（身体）	29公斤
作品	主机/PC/电缆
配件	样品架/机身盖
选项	立式支架（重量：10kg）
使用环境	摄氏度10~35度湿度20~80%（无凝结）
显示器最大分辨率	1920 x 1200（24 英寸宽）
操作系统	Windows 10（64位）
软件	专用软件“ClearBack" 图像亮度不均匀校正使背景均匀，更容易确认缺陷。