微小区域、曲面和超薄样品反射率测量装置MSP-100

发布日期：2024-06-20 浏览次数：93

微小区域、曲面和超薄样品反射率测量装置MSP-100



通过使用特殊的半反射镜，可以减少背面反射光，无需背面处理即可在短时间内进行精确测量。（可测量0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物镜时）

还可以测量镜片曲面和涂层不均匀度。（在样品表面连接微小点（φ50μm））

即使是低反射率的样品也可以在短时间内进行测量，并且具有高重复性。（光学设计捕获最大量的光，512元件线性PDA，内置16位A/D转换器，USB 2.0接口高速计算实现快速测量。）

可以进行色度测量和L*a*b*测量。可以使用光谱比色法根据光谱反射率来测量物体。

数据可以以Microsoft Excel(R) 格式保存。

单层薄膜可以非接触式、非破坏性地测量。

具有在同一屏幕上显示多个测量结果的功能。轻松比较测量结果。

规格

型号	MSP-100
测量波长	380～1050nm
测量重复性	±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm)
样品面NA	NA 0.12（使用 10 倍物镜时）
样品测量范围	φ50μm（使用10倍物镜时）
样品曲率半径	-1R~-无穷大, +1R~无穷大
显示分辨率	1纳米
测量时间	几秒到十几秒（取决于采样时间）
外形尺寸	(宽)230×(高)560×(深)460mm（仅机身）
工作温度限制	18～28℃
工作湿度	60%以下（无凝露）

测量结果图像