非接触式热物性（热扩散率）测量装置 TA35型的原理分析

发布日期：2024-09-04      浏览次数：67

非接触式热物性（热扩散率）测量装置 TA35型的原理分析




• 热物性测量装置 热波分析仪

• TA35型



[特点]
　・非接触式测量，不受接触（热）电阻的影响
　・测量范围宽～从有机薄膜到金刚石〜
　・单个装置可测量水平（XY）和垂直（Z）方向
　・垂直（Z ））方向映射测量








测量原理

 　　

(1) 周期性加热源 (P0eiωt) 以热扩散率 α 对样品表面进行点加热
(2) 加热点温度的交流分量表示为 Tac = P0eiωt
(3) 周期性加热源。 (P0eiωt) 置于周围区域，激发温度传播可以用以下公式表示。



(4) c：单位体积比热容，ɤ：距点热源的距离
　　k 为温度波的波数，用下式表示：



(5) 式中μ为热扩散长度。因此，相位变为以下等式。






特征

范围 涵盖广泛的测量范围 - 从有机薄膜到钻石 -



 

 

灵活的形状 无论样品形状如何，都可以进行测量！

～可以测量任何形状的样品，圆形、方形、三角形～

热波分析仪 TA 可满足客户开发现场的需求。



由于无需将测量样品的形状与设备相匹配，因此可以显着减少样品制备的工作量和成本。

 

 

安全简单的操作 操作简单，只需将样品放置在电脑上即可操作



 

 

各向异性评估 可在 XYZ 方向连续测量 ~ 用于评估具有各向异性的材料 ~

垂直测量/水平测量



<应用>

• 电子元件散热材料的评价

• 半导体激光电极的评价

• 发热材料的评价

• 硬质合金工具涂层的评价等

 

你了解各向异性吗？树脂与各种填料(A1N、SiO 2 、SiC、CNT)的复合材料的热导率
根据混合比例的不同而发生很大变化，因此测量热扩散率非常重要。
该设备可以对同一工件和样品同时进行三个方向（X、Y和Z）的连续测量，非常适合测量想要了解各向异性的样品。 可用于
测量电子电路中使用的散热片、碳纤维增强树脂、高热电树脂、聚酰亚胺片等各种样品。


 

测量示例

电子元件与TIM材料之间的附着力评估

测量目标 测量结果

　　　

层压材料是由具有不同导热系数的材料分层制成的，因此预计传热将根据粘合的均匀性而发生很大变化。
然而，传统上精确测量层压材料的导热率极其困难，这使其成为开发过程中的问题之一。
该装置连续获取并绘制垂直相位延迟，从而可以相对评估层压材料的热传导。
它不仅适用于材料热物理性质的相对评估，而且适用于检查零件的缺陷和检查均匀性。

 

 

电子元件的形状评价

测量目标 测量结果

　　

热导率分布评价（定性值） *可以将热导率的均匀程度绘制成图表。

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