mitsuwa高分子材料劣化评价装置产品介绍

发布日期：2024-09-04      浏览次数：83

mitsuwa高分子材料劣化评价装置产品介绍

东北电子产业株式会社制造的化学发光分析装置


高分子材料在环境中逐渐氧化并开始劣化。
该装置采用未有的方法对材料的氧化进行定量，从而可以定量评估氧化劣化。 

如今，使用的回收料比原生料氧化程度更高，即使原材料相同，但由于工艺不同，成品性能也存在差异；即使生产批次和制造商不同，成品也因批次和制造商不同而存在差异。对于分析除耐候性以外的涉及氧化的因素（例如性能差异），这是一种非常有效的方法。

产品信息

测量原理

◆传统的化学发光法通过捕获人类不可见的光来检测氧化劣化，主要在约数千小时后进行评估，直到达到设备可以检测到的水平。
该设备最早可以在几个小时后检测到变化，具体取决于材料和恶化速度。
 

通过捕获上面显示的光发射，您可以获得以下结果。 


・通过在空气中加热样品，过氧化物分解并检测到“第一个峰”。该第一个峰对应于测量时的过氧化物的量。
- 最终，它将达到平衡状态。此时的强度称为平衡发射强度（IS）。
- 如果样品中添加了稳定剂，稳定剂会阻挡它，但一旦消耗掉，样品本身就会氧化，发光强度会增加。
・第2个峰的起点被称为氧化诱导时间（OIT），可以根据该OIT评价样品的氧化稳定性。还可以通过 IS（平衡发射强度）评估样品的氧化稳定性。

阵容

◆高灵敏度型

产品名称/型号名称	超弱发光检测光谱仪 CLA-FS5	超弱发光检测光谱仪 CLA-ID5
外部的
检测方法	单光子计数法 使用光电倍增管（Photomultiplier）
检测波长	300nm至650nm（中心波长420nm）
冷却方式	一次冷却：帕尔贴元件二次冷却：水冷
测量项目	①发光亮度（次/秒） ②发射光谱（380nm至660nm/20nm分辨率）	发射亮度（计数/秒）
最短测量时间 （闸门时间）	0.1秒、1秒、10秒
光谱滤光片	内置15张（380nm至660nm：每20nm）	没有任何
触摸屏 显示项目	① 发光量 ② 样品室温度 ③ 样品室设定温度 ④ 状态 ⑤ GateTime ⑥ 报警 ⑦详情 ⑧样品室开/关状态 ⑨快门开/关状态
通讯功能	USB 端口 (1) 使用特殊程序
尺寸/重量	523.5(宽)×411.5(深)×547(高)毫米 约60公斤	310（宽）×420（深）×524（高）毫米 约35公斤

◆成像功能型

产品名称/型号名称	弱发光图像测量装置 CLA-IMG5	瞬时光谱测量装置 共轭SP3
外部的
检测方法	背照式帧传输CCD相机
检测波长	400-800nm（中心波长600nm）
冷却方式	风冷
有效像素数	1024 x 1024 像素	1600 x 200 像素
解决	空间分辨率：约150μm×150μm （选项：约10μm）	波长分辨率：约1nm
测量项目	发光图像 发射亮度（图像选择范围内）	发射光谱测量
接触时间	30毫秒～120分钟	0.01 至 10,000 秒
镜片	25mm F0.95（C接口）	入口狭缝宽度：0.1/0.5/1.0mm
内置快门	内置机械快门	没有任何
通讯功能	IEEE1394b	USB
尺寸/重量	310（宽）×446（深）×775（高）毫米 约30公斤	310（宽）×420（深）×524（高）毫米 约35公斤