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反射率检测仪TSS-5X-3的运用分析

  • 发布日期:2024-09-10      浏览次数:48
    • 反射率检测仪TSS-5X-3的运用分析

      透射/反射光谱是材料本身的一项重要光学特性,在现今工业蓬勃发展的背景下,对材料本身特性的质量控制越来越严格,从而利用光谱仪进行快速准确的反射光谱/透射光谱的测量技术也开始日渐成熟。

      透射/反射光谱仪系统具有测量快速,准确,方便集成等优点,目前已经广泛应用到实验室检测、产品在线测试等应用。目前的主要应用在:

      高分子材料反射/透射测试

      建筑玻璃 反射/透射测试

      在线 反射/透射测试

      光伏压花玻璃 透射测试

      干涉滤光片 透射测试

      薄膜样品 反射/透射测试

      各种晶体、塑料、纺织品等反射测试

      平板、LCD、背光板、手机/平板油墨孔等透射测量

      光谱反射测量的基本原理是利用光纤将光源输送到物体的表面,再将材料的光谱反射数据传到光纤光谱仪上,由软件将其显示,并对其进行分析,从而可以对待测样品进行鉴定。在测量时,将一面与基准光路呈一定角度的标准反射器置于测量光路上,并以其反射光谱为参照。当暗光谱和参考光谱都收集完毕后,可以将被测量的样品替换为标准的反射板,进行后续实验的测试。

      使用发射率计TSS-5X-3,您可以轻松测量样品在室温下的发射率。发射率值以数字方式显示,方便查看,操作简单。

      量化材料表面处理的细微差别

      TSS-5X-3 可让您轻松测量室温下的发射率。
      样品的发射率以数字方式显示,方便查看,操作方便。


      它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域,包括空间、半导体和核电。

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      产品特点

      • 量化材料表面处理的细微差别

        通过了解发射率,您可以提高加热设备的辐射效率,设计强调散热和隔热的材料,还可以用于节省能源。

        TSS-5X-3使用两种类型的参考件(发射率0.06和0.97),其参考发射率是预先已知的,并且可以在室温下轻松测量,无需加热样品。

        它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域,包括空间、半导体和核电。

         

      • 测量原理

        红外线被样品反射,一部分红外线通过半球形黑体炉顶部的小孔进入。
        检测元件以恒定速率检测该能量。

      规格/光路图

      模型TSS-5X-3
      测量方法使用红外检测的反射能量测量方法
      测量波长2~22μm
      测量范围发射率:0.00~1.00
      准确度等级满量程的 ±1%
      测量面积Φ15mm
      测量距离12mm(检测头柱固定)
      样品温度10-40℃(室温)
      测量值显示LED数字显示(显示至小数点后第二位)
      输出0-0.1V、0-1V、满量程
      工作温度/湿度范围10~45℃/35~85℃(无凝结)
      电源/电力AC100-240V,50/60Hz,30W *不含电源线。请选择适合您所在位置的电源线。
      尺寸/质量检测头:Φ51 x 137Lmm、0.6kg(含3000Lmm机器人电缆)
      测量单元:156H x 306W x 230Dmm(不含橡胶脚柄等)、5.0kg
      配件发射率标准件存放盒:84H x 238W x 185Dmm,1.1kg
      发射率标准件:0.06(镜面)、0.97(黑体),各存放 1 个




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