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粒子可视化系统 PV2 系列在感光材料和半导体中异物检测上的运用

  • 发布日期:2024-09-21      浏览次数:87
    • 粒子可视化系统 PV2 系列在感光材料和半导体中异物检测上的运用

      可视化低至 0.1 微米的颗粒

       

      解决异物问题的新解决方案
      将颗粒产生、悬浮、沉积和重新散射的过程可视化,大大提高了提高清洁度的工作效率。即使在明亮的环境中,红色激光光源也可以让您捕捉和拍摄粒子图像。业内最小、最轻,高度便携,可安装在任何地方。这将改善存在异物问题的环境。

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      一目了然了解工作环境中的细颗粒物符合ISO14644-17

      洁净服上的灰尘

      洁净服上的灰尘

      衣服上的灰尘

      衣服上的灰尘

      空气净化器

      空气净化器

      可视化示例|可视化 FFU 中 0.3 微米的落尘

      借助粒子查看器 PV2 系列,您将不会错过任何粒子过程。评估从粉尘产生到悬浮、沉积和再夹带的非接触区域,并可视化每个过程。

      工作环境中悬浮的颗粒物有多少?异物从哪里来?另外,灰尘的来源在哪里?可以采取适当的改进措施。通过提高清洁度来提高工作效率,创造更好的工作环境。

      活跃于各个领域粒子可视化技术的应用

      管理洁净室中的颗粒物

      实时可视化洁净室中颗粒物的产生和悬浮情况,使管理人员能够保持洁净度。这使我们能够维持安全的工作环境并确保产品质量。

       

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      感光材料和半导体中的异物对策

      硅片

      通过检测感光材料和半导体制造过程中产生的细小颗粒,可以采取措施防止异物附着。有助于提高制造质量和生产效率。

      电动汽车电池质量控制

      实时检测电动汽车电池制造过程中的颗粒污染。可以加强质量控制并保持产品性能和安全。

      提高喷漆室效率

      可视化喷漆室中的细颗粒有助于提高喷漆产量。它提高了工作效率并有助于资源的有效利用。

      使用实时图像处理清晰地显示细颗粒

      通过图像

      通过(无图像处理)

      轨迹显示

      图像处理“轨迹”

      强调

      图像处理“重点”

      伪彩色

      以假色显示

      实时图像处理技术实现超高灵敏度可视化。它清晰地显示了难以看到的细小颗粒。通过在“通过”、“轨迹”和“强调” 3种模式之间切换,可以根据现象实现最佳可视化。此外,通过伪彩色显示,您可以更轻松地了解漂浮粒子的行为。图像处理细节和相机设置可以作为文件保存和加载,从而可以轻松根据拍摄模式执行一致的处理。

      计数漂浮颗粒(测量功能)

      粒子数

      粒子查看器PV2系列软件启动屏幕

      计算图像中的粒子数量并与时间序列图同步播放

      作为离线测量功能,您可以计算图像中的颗粒数量。计数的粒子可以显示在时间序列图中,并与现象视频同步回放。您可以轻松分析灰尘产生的时间。

      粒子可视化系统的特点特点/功能

      以超高灵敏度可视化细颗粒
      我们开发了实时图像处理技术,可实现细颗粒的超高灵敏度可视化。


      追求可用性和功能性
      支持各种环境下的颗粒测量。它是一款集可用性和功能性于一体的产品。


      非接触式面积评估
      可以非接触式进行面积评估。集中管理从颗粒产生到悬浮、沉积和再分散的每个过程。


      采用红色激光光源
      我们是第一个使用红色激光光源的公司,该光源可以可靠地拍摄漂浮颗粒,而不会融入背景。


      时间序列粒子数计数
      对离线测量拍摄的图像中的粒子数进行计数,并将其显示在时间序列图中。可视化灰尘产生的时间。


      气流评估功能
      还可以对漂浮颗粒进行定性气流评估。

       

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