使用荧光 X 射线分析仪进行在线膜厚分析的实例

发布日期：2024-11-04      浏览次数：44

使用荧光 X 射线分析仪进行在线膜厚分析的实例




采用 Hours Tech 无损分析技术的在线膜厚分析仪

我们想介绍一款利用我们的无损分析技术的在线膜厚分析仪。



　【特征】
 ● 可在线分析膜厚
 ● 电源仅AC100V，节电装置
 ● 可自由定制以满足您的需求
 ● 配备SDD检测器，无需液氮或冷却水  [应用实例]
 ● 高性能成膜的在线膜厚分析
 ● 金属箔的在线分析
 ● 溶液/液体等的在线分析。









测量沉积膜的厚度是表面处理功能材料开发和质量控制的重要评估技术。
荧光X射线分析仪“OURSTEX100FA"可以改装为在线使用，以便将测量头连接到薄膜沉积设备上。
该测量头内的探测器和X射线管用水冷却以散热。


设备安装



输出显示示例



设备规格（标准）

测量目标	电影
电源	交流100V~240V
安装环境温度	5~27℃
设备冷却	水冷*1
X射线额定输出	40(kV)-1.0(mA)，最大40(W)
测量头尺寸	266(宽)×136(深)×160(高)mm *2