石油、润滑油等杂质分析设备OURSTEX140技术分析

发布日期：2024-11-04      浏览次数：46

石油、润滑油等杂质分析设备OURSTEX140技术分析




高计数率和高分辨率（用于高精度和痕量分析）

■在OURSTEX140！ ■

对于轻元素测量，初级 X 射线通过 PET 单色仪制成单色，并用管靶的 L 射线激发。对于中重元素测量，初级 X 射线通过石墨单色仪制成单色，并用来自管靶的 K 射线激发。此外，通过自动选择目标元素的最佳激发条件，例如K射线和L射线同时激发、直接法激发和滤波器法激发，可以抑制背景并进行高灵敏度检测。



 [应用实例]
 ●土壤、污泥、废水等元素分析。　●炉渣、废物处理后的成分分析　●各类食品中异物分析　●合金及有色金属成分分析　●石油、润滑油等杂质分析...














特征

　●可进行无损且快速的元素分析。
　●无需液氮或冷却水，只需100V电源即可分析。
　●五种激励模式可自由组合，实现高灵敏度、高精度分析，具有良好的市净率。
　●通过X射线管的L射线激发，可以高灵敏度地进行Na～17Cl的测定。
　●对于19K至42Mo的测量，可以使用X射线管的K射线激发进行高灵敏度测量。
　● 同时激发K 射线和L 射线，可以有效测量各种轻到中重元素。
　直接法激发可实现 50Sn 和 56Ba 等重元素的高灵敏度测量。

尺寸图



应用实例

• 稻壳的 Si 分析

• 区分不锈钢与不同材质

• 中日香菇鉴别分析

• 污染水中的砷、铅分析

 

OURSTEX140规格

 

测量原理	能量色散X射线荧光光谱法
测量目标	固体/粉末/液体/薄膜/生物样品
测量元件	11Na ~ 92U
样品形状	20mmφ×22mmH（12种样品）
样品室气氛	气氛（真空可选）
X射线照射直径	～3mmφ
X射线管靶	钯
X射线额定输出	45kV-2mA，50W
探测器	硅漂移探测器 (SDD)
计数电路	数字信号处理器（DSP）
分析软件	自动定性分析、校准曲线法定量分析、FP法定量分析（可选）
电脑	PC/AT兼容机、WindowsXP 　喷墨彩色打印机
使用条款	温度：5-27℃ 　湿度：20-75% 　电源：AC100V、5A（50/60Hz） 　接地：接地电阻100Ω以下 　*不需要液氮、冷却水、分析气体等
外形尺寸/重量	测量头部分（12种样品类型）：350 x 438 x 354 mm，40 kg 　控制器部分：340 x 320 x 120 mm，9 kg 　真空泵：190 x 177 x 132 mm，3 kg
作品	测量头、控制器、真空泵、附件

*关于引进OURSTEX140，需要提前向劳动基准监督署通报。