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四探针法电阻率测量装置sigma-5+介绍

  • 发布日期:2024-11-05      浏览次数:52
    • 四探针法电阻率测量装置sigma-5+介绍

      电阻率测量装置(方块电阻测量装置)
      半导体/LCD前工序(检查)
      适合专业技术人员的高性能工具。
      这是一款手动式测量仪器,采用四探针法,轻松准确地测量太阳能电池硅片、液晶基板、金属薄膜等的方块电阻或体积电阻。它支持从低电阻到高电阻的各种测量。
      <应用>
      1) 用于硅锭制造→晶圆制造工序(成膜等各种加工工序)的产品检查 
      2) 液晶面板(LCD基板)制造:成膜时的产品检查
      3) 用于各种导电部件制造过程中的产品检验
      可以使用本公司另外配置的“4点探头"进行测量。
      型号 sigma-5+


      IMGP1724_sigma5+.JPG
      它可以精确测量硅片等的电阻率,还有用于太阳能电池的硅的便携式探头。
      这是一款高精度电阻率测量仪器,采用20多年电阻率测量相关的专业知识和技术设计和开发。
      可以在半导体基板和导电薄膜基板的研发/检查过程或生产线中高精度地确定和评估薄层电阻值和体积电阻值。
      *照片为与样品台RG-5的组合。
      【基本规格】
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      [特征]
      ・带有开关功能的智能面板,可进行详细设置
      ・紧凑的桌面尺寸设计
      ・从低电阻到高电阻的宽测量范围
      ・电流极性切换测量可抑制因整流而产生的误差
      ・每次测量开始时自动调零功能
      ・自动设定最佳电流的自动量程功能
      ・试样厚度修正功能
      ・测量值平均值显示和打印机平均值计算功能
      ・半导体温度校正功能
      ・各种温度修正系数输入功能
      ・带数据打印机接口
      ・具有数据连接接口
      ・可选择样品表<基本规格>
      ■ 手持式薄膜电阻测量装置/薄膜电阻率测量装置
      方块电阻测量装置
      *该产品目前已停产。
      手持式方块电阻测量仪SRM-232使用4点探头测量绝缘材料上导电薄膜的方块电阻。此外,电阻率计PV-628可以测量太阳能电池基板等硅半导体的电阻率。所有型号均可保存数据并将数据输出至计算机,并由具有自动断电功能的电池供电。
      ■ 手持式 ・电阻率测量仪 型号PV-628
      电阻率计
      PV-628 型是一款便携式 4 点探针测量仪器,专门用于测量太阳能发电用硅的电阻率。由于它采用电池作为电源,因此便于携带,而且不受被测物体形状或尺寸的限制,便于测量。
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      IMGP1722_HP-1 手持探头.JPG



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