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日本napson非接触式电阻检测仪

  • 发布日期:2020-11-16 浏览次数:2987
    • 紧凑且易于操作的手动非接触式(涡流法)电阻测量仪

      产品名称:EC-80

      测量范围

      [电阻] 1m至200Ω·cm
      (*所有探头类型的总范围/厚度500um)
      [抗页电阻] 10m至3kΩ / sq
      (*所有探头类型的总范围)

      *有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
      (1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
      0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
      (3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-cm)
      (4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

      使用手持式探针的手动无损(涡流法)电阻测量仪

      产品名称:EC-80P(便携式)

      测量范围

      [电阻] 1m至200Ω·cm
      (*所有探头类型的总范围/厚度500um)
      [板电阻] 10m至3kΩ / sq
      (*所有探头类型的总范围)

      *有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
      (1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
      0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
      (3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-cm)
      (4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)
      (5)太阳能晶片:5至500Ω/□(0。 2至15Ω-cm)

      可通过个人计算机轻松操作的非接触(涡流法)电阻/薄层电阻测量装置

      产品名称:NC-10(NC-20)

      测量范围

      [电阻] 1m至200Ω·cm
      (*所有探头类型的总范围/厚度500um)
      [板电阻] 10m至3kΩ / sq
      (*所有探头类型的总范围)

      *有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
      (1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
      0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
      (3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-cm)
      (4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

      DUORES手持式薄层电阻测量仪(2个探头更换用[接触式和非破坏性测量探头])

      产品名称:DUORES

      测量目标

      半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
      新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
      导电薄膜相关(金属,ITO等)
      硅基外延,离子与
      半导体相关的进样样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)

      薄膜,玻璃,纸材料等
      通常,可以在测量范围内测量任何样品。
      •薄膜材料(ITO,TCO等)
      •低电子玻璃
      •碳纳米管,石墨烯材料
      •金属材料(纳米线,网格,网眼)
      •其他

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    • 电话

    • 传真

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