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用于石墨烯的便携式电阻检测仪EC-80P技术介绍

  • 发布日期:2021-07-19 浏览次数:898
    • 用于石墨烯的便携式电阻检测仪EC-80P技术介绍

      针对纳米导电薄膜的方块电阻检测问题,提出了基于微带传输线的无损检测方法。通过引入空气缝隙,将待测导电薄膜及其衬底插入微带线横截面内,进而测量微波信号的插损来获得待测薄膜的导电特性。采用电磁仿真软件和实验测试对该方法进行了验证,结果表明:待测薄膜的方块电阻越大,对应的信号插损越小,从而初步证明了所提方法的可行性。

      日本napson便携式电阻检测仪EC-80P

      产品特点

      • 只需触摸手持式探头即可测量电阻。
      • 在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换
      • 使用JOG拨盘轻松设置测量条件
      • 连接到连接器的可替换电阻测量探头可支持多种电阻
      • (电阻探头:多可以使用2 + PN判断探头)

      测量规格

      测量目标

      半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
      新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
      导电薄膜相关(金属,ITO等)
      硅基外延,离子与半导体相关的注入样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
      其他(*请与我们联系)

      测量尺寸

      无论样品大小和形状如何均可进行测量(但是,大于20mmφ且表面平坦)

      测量范围

      [电阻] 1m至200Ω・ cm
      (*所有探头类型的总量程/厚度500um)
      [抗剪强度] 10m至3kΩ / sq
      (*所有探头类型的总量程)

      *有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
      (1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至0.05Ω-cm)
      (2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
      (3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-cm)
      (4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)
      (5)太阳能晶片:5至500Ω/□(0。 2至15Ω-cm)

    联系方式
    • 电话

    • 传真

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