软膜和薄膜用台式离线电容式测厚仪TOF-C2

发布日期：2021-09-26 浏览次数：732

软膜和薄膜用台式离线电容式测厚仪TOF-C2



模型	TOF-C2 * TOF-C的后继机型
测量方法	非接触式/电容式
测量对象	薄膜、粘性保护膜、易沾灰尘的薄膜
测量原理	电容式

产品特点

• 高测量分辨率

• 由于它是非接触式，因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。

• 即使表面状况粗糙，也可以进行测量。

• 基重测量

• 操作简单（具有自动介电常数设置功能）

产品规格

测量厚度	~ 500 微米
测量长度	10 至 10000 毫米
测量间距	1 毫米 ~
小显示值	0.01微米
电源电压	AC100V 50 / 60Hz
工作温度限制	5-40°C（测量时温度变化1°C以内）
湿度	35-80%（无冷凝）