图像分析型粒度分布测量软件Mac-View介绍
结合各种识别工具,实现对所有粒子的测量和分析
通过读取SEM或TEM拍摄的图像并识别目标颗粒,自动计算粒度分布并量化颗粒形状。
通过使用手写板的手动分析工具,可以轻松识别形状复杂的颗粒和聚集的颗粒。
Mac-View Version.5 的新功能和改进
-在粒子采集模式中增加了“针形"
■ 凝聚粒子的一次粒径分析
可以评价凝集粒子的初级粒径,这在过去是困难的。
■ 纳米粒子的评价
只要有尺度信息,无论颗粒大小如何,都可以进行分析。
■ 多方面分析/评估
可以自动测量粒度分布并分析颗粒形状(圆度、纵横比等)。另外,可利用的数据丰富,可以评价凝聚粒子的初级粒子。
■ 易于操作
不需要特别的知识,操作简单,与作业人员的熟练程度无关。
■ 无需昂贵的资本投资
只要您准备好图像(jpeg、位图),您就可以在 PC 上安装软件后立即使用它。
纳米粒子、凝聚粒子、造粒体、烧结体截面、乳化粒径等
■ 粉体分析综合软件Mac-PIAS
Mac-PIAS是一个全新维度的综合粉体分析软件,可以对任何方法测得的“粒度分布数据"进行统一管理和分析。
■ 筛分试验数据分析软件Macmesh
Macmesh 是一种工具,可以消除筛选测试中的人为错误,数据量大,工作效率高。
测量功能 | 面积/周长/长轴/短轴/长度/小长度/海伍德直径/周长圆当量直径/圆度系数/纵横比/形状系数1-3/费雷特直径/马丁直径/克鲁姆贝因直径/双轴平均直径,双轴几何平均直径、双轴协调平均直径、长度等。 |
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分析功能 | 粒度%·ON/PASS分析·体积/数量/长度转换·峰数据分析·汇总数据分析·粒度分类转换·筛选垂直转换·形状系数分析·数据合成·数据分组 |
其他功能 | 各种图形显示功能、各种打印输出功能、文本输出功能、图像输出功能等 |
操作环境 | ● PC/AT 兼容机运行Microsoft Windows 7/8/10(兼容32/64 位) * 如果您使用的是Windows 7/8,请通过Windows Update 安装的更新程序。 ● 用于许可证认证的 USB 硬件 配备可用于密钥的 USB 端口(必需) ● 连接扫描仪(TWAIN 兼容)和可选液晶数位板时,需要 USB 端口等接口 ● 显示器: 显示高达全高清分辨率 (1,920 x 1,080) ● CPU:根据操作系统要求的试用(CPU 1 GHz 或更高) ● 内存:推荐 2GB 或更多 ● 至少需要 200MB 的可用空间在内部硬件 ● 安装 有时需要 CD-ROM 驱动器 |
对应标准 | 基于 JIS Z 8827-1 |