无损分析技术的在线膜厚分析仪OURSTEX100TA-F介绍

发布日期：2021-12-13 浏览次数：474

无损分析技术的在线膜厚分析仪OURSTEX100TA-F介绍

介绍利用我们的无损分析技术的在线膜厚分析仪。



　【特征】

● 可进行在线膜厚分析

● 电源只有AC100V，节电装置

● 可根据应用自由定制

● 配备SDD检测器，无需液氮或冷却水

【应用实例】

● 高性能成膜膜在线膜厚分析

● 金属叶片在线分析

● 溶液、液体等的在线分析。

安装示例

(安装在成膜装置上的例子) (安装

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　测量头的例子)即使在真空中也可以安装测量头。
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（真空度将单独讨论。）

组件示例

测量头与电源之间的连接电缆长度为2.7m。
USB电缆用于设备和PC之间的通信。

输出显示示例



尺寸图



应用实例

在线薄膜测厚仪的实例和性能评估

化学溶液中金属元素的在线浓度控制分析示例

OURSTEX 100TA-F规格

测量原理	能量色散X射线荧光分析法
测量对象	电影
电源供应	AC100V-240V
安装环境温度	5-27℃
设备冷却	水冷*1
X射线额定输出	40kV，1.0mA，40（W）
探测器	SDD（硅漂移探测器）
计数电路	DSP（数字信号处理器）
测量头尺寸	温度：5～27℃ 266（W）x 136（D）x 160（H）mm*2


* 1：测量头（内部）经过水冷。
* 2：如有更改，恕不另行通知。

待测样品的详细规格、目标元素、精度、操作等将单独讨论。请随时与我们联系。　　

* OURSTEX100TA-F的引进，需要提前通知劳动基准监督署。