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粘性保护膜用台式离线测厚仪TOF-C2介绍
| 模型 | TOF-C2 * TOF-C 的后续型号 |
|---|---|
| 测量方法 | 非接触式/电容式 |
| 测量对象 | 薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜 |
| 测量原理 | 电容式 |
高测量分辨率
由于是非接触型，因此非常适合接触型难以测量的薄膜。
即使表面状况粗糙，也可以进行测量。
基重测量
操作简单（具有自动介电常数设置功能）
| 测量厚度 | ~ 500 微米 |
|---|---|
| 测量长度 | 10 至 10000 毫米 |
| 测量间距 | 1 毫米 ~ |
| 小显示值 | 0.01微米 |
| 电源电压 | AC100V 50 / 60Hz |
| 工作温度限制 | 5-40℃（测量时温度变化1℃以内） |
| 湿度 | 35-80%（无冷凝） |
离线式测厚仪是台式紧凑型测厚仪。将薄膜或片材切成条状并测量。由于测量是在自动运输的同时进行的，因此任何人都可以轻松快速地进行测量，并且不受测量者技能的影响是一大特点。
常用于质量控制部门和研发应用。此外，由于测量的图形可以以环形显示，因此经常用于充气膜的制造现场。
测量方法
测量对象
薄膜、片材
测量厚度
0.03 至 3 毫米
测量方法
测量对象
这个电影
测量厚度
0.02-0.2毫米
测量方法
测量对象
薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）
测量厚度
5-100微米
测量方法
测量对象
薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜
测量厚度
~ 500 微米
测量方法
测量对象
电子、光学用透明平滑膜、多层膜
测量厚度
1 至 50 μm（用于薄材料）
10 至 150 μm（用于厚材料）
测量方法
测量对象
钢板或铝板等金属板
测量厚度
0.1-0.5毫米
