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红外线加热型TDS的特点
红外线加热式升温解吸分析仪TDS1200Ⅱ是用质谱仪在超高真空中对样品进行程序化温度时，实时观察解吸分子的分析仪。
即使是水、氢气、氧气和二氧化碳等具有高背景的成分，也可以从极少量中检测到，因为它们是在真空中测量的。
可以识别和量化从样品中解吸的分子的化学种类。此外，还可以获得解吸气体的吸附/结合状态、扩散过程等信息。
非常适合测量薄膜样品和容易被红外线加热的薄膜样品。新的 TDS1200Ⅱ 是传统 TDS1200 系统的更新，并使用触摸面板作为界面。符合 CE 标志使用标准。
负载锁定室对于高测量效率（高通量）和高灵敏度是不可少的。我们的负载锁定室和样品转移机制只允许将样品快速引入超高真空分析室。
如果没有负载锁定室，每次更换样品时分析室都必须对大气开放。一旦打开到大气中，大量的大气成分（尤其是水分）被吸附在分析室中，需要很长时间才能充分排出。
在热解吸分析中，重要的是在加热样品时分析室和分析室内的组件不被加热。对于具有加热腔室的结构的TDS，很难区分从样品中释放的气体和从腔室中释放的气体。
TDS1200Ⅱ通过石英棒导入的红外线直接加热样品，即使在高温区域也可将背景水平的上升降至低，可以进行高灵敏度测量。
QMS 电离室位于样品正上方，用于灵敏检测解吸气体。通过将其设置在正上方，从样品中解吸出来的气体可以直接到达QMS电离室，因此可以以高灵敏度检测高气相沉积的金属和大分子量的有机分子。
数据处理程序可以量化解吸的气体。有必要定期校准质谱仪的灵敏度以量化解吸气体。
使用标准漏孔进行灵敏度校准需要与气体类型相同数量的昂贵标准漏孔，并且校准工作非常耗时。此外，在使用标准泄漏有毒气体时，安全和健康管理变得更加严格。
当前的量化程序可以比标准泄漏校准方法更快、更容易、更安全地量化解吸气体。只需定期测量我们的 NIST 可追溯氢标准样品，即可获得高度准确的结果。经证实，我公司开发的灵敏度校正方法即使在氢气以外的气体中也能校正灵敏度，与基于AIST（AIST）国标标准漏孔校准的定量结果吻合较好。 .
