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YP-250I半导体行业用目视检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2023-08-26访问量：363
YP-250I晶圆表面瑕疵检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2023-08-26访问量：355
YP-250I高照度卤素强光灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2023-08-26访问量：382
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2023-08-26访问量：797
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2023-08-26访问量：324
日本sena玻璃晶圆目视检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-08-25访问量：342
日本sena硅玻璃表面异物检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-08-25访问量：283
日本sena玻璃表面划痕检查灯185le 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-08-25访问量：295
日本sena晶圆表面清洁度检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-08-25访问量：302
日本sena电子行业用检查灯185LE 光学测量仪 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-08-25访问量：277
日本sena电子行业用卤素灯185LE 光学测量仪 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-08-25访问量：292
日本sena表面检查用卤素灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2023-12-13访问量：678
