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日本shinyei分体式镜面冷却露点仪DewStar R-1 系列 DewStar 系列是被“JIS-Z-8806/湿度测量法”认定为标准湿度计的高精度、高可靠性的镜面冷却露点计。
更新日期：2022-07-08访问量：1284
日本yutaka微球外径检测装置YSW-2R 我们在一家精密零件检测设备制造商，如滚轮外径分选机、激光分选机、CCD光学分选机等经过10年的研发，介绍了超精密滚轮式球外径分选机的成功技术开发和商业化。直径分选机YSW-2R，可实现连续无人自动操作和99%检查，非常适合球、锡球等球体外径分选。
更新日期：2022-08-22访问量：832
日本YAMABUN山文电气在线激光测厚装置NME-RM, NSM-RM PP/PS/多层/薄膜/片材的理想选择 以非接触方式测量厚度而非基重 座椅制造过程中的全宽测量 无需许可证、许可证或创建校准曲线即可轻松操作
更新日期：2023-10-24访问量：731
日本YAMABUN山文电气适用于钢板和铝板等的台式测厚仪TOF-M 测量切割成条状的钢板和铝板等金属板的厚度波动 通过自动传输机制实现稳定的测量重复性 测量数据可自动保存在个人电脑上
更新日期：2023-11-24访问量：907
日本YAMABUN山文电气台式离线分光干涉式测厚仪TOF-S 实现高测量重复性（± 0.01 μm 或更小，取决于对象和测量条件） 不易受温度变化的影响 可以生产用于研究和检查的离线式和在制造过程中使用的在线式。 反射型允许从薄膜的一侧进行测量 仅可测量透明涂膜层（取决于测量条件）
更新日期：2022-08-22访问量：781
日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2 高测量分辨率 由于它是非接触式，因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。 即使表面状况粗糙，也可以进行测量。 基重测量 操作简单（具有自动介电常数设置功能）
更新日期：2022-08-22访问量：826
日本YAMABUN山文电气台式离线接触式测厚仪TOF-6R001 模型TOF-6R001 测量方法接触式/线性规 测量对象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等） 测量原理线规
更新日期：2023-11-24访问量：704
日本YAMABUN山文电气台式离线接触式测厚仪TOF-5R01 简单快速的离线厚度测量 测量数据实时显示在屏幕上 测量数据可自动保存在个人电脑上 由于是自动运输测量，测量数据不存在个体差异。 也可用于调整雷达图上的充气膜。
更新日期：2023-11-24访问量：771
日本YAMABUN山文电气台式离线接触式测厚仪TOF-4R05 简单快速的离线厚度测量 测量数据实时显示在屏幕上 测量数据可自动保存在个人电脑上
更新日期：2023-11-24访问量：762
日本filmetrics对准自动膜厚测量系统F60 F60自动测绘膜厚测量系统是F50的高duan机型，具有缺口检测、自动基线功能和互锁机制。 只需将样品放在载物台上，然后单击测量按钮即可自动执行对齐、基线和膜厚映射。
更新日期：2023-10-22访问量：895
日本filmetrics自动膜厚测量系统F50 F50自动测绘膜厚测量系统是将基于光学干涉原理的膜厚测量功能与自动高速载物台相结合的系统。 以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率。它支持从2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何测量点。
更新日期：2023-10-20访问量：1458
日本filmetrics台式膜厚测量系统F3-CS F3-CS是测量小样品的测量系统。与测量台集成的测量系统使其易于携带。 只需将样品的测量面朝下放置在载物台上即可进行测量，约1秒即可测量出膜厚和折射率。
更新日期：2023-10-18访问量：926
日本filmetrics板厚测量系统F3-sX 可以高精度测量硅基板和玻璃基板的厚度。 通过安装初开发的具有高波长分辨率的光谱仪，可以测量高达 3 mm 的厚膜。
更新日期：2023-10-16访问量：953
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统F10-RT F10-RT 是一款集成了测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统。可同时测量反射率和透射率，并可轻松分析膜厚、折射率和消光系数。 只需一根 USB 线和电源线即可轻松连接，无需调整光学系统，无需复杂的设置，而且设置非常简单。
更新日期：2023-10-14访问量：847
日本filmetrics膜厚测量系统F20 一种行业标准、低价、多功能的台式薄膜厚度测量系统，已在安装了 5,000 多台。它可用于从研发到制造现场在线测量的广泛应用。
更新日期：2023-10-12访问量：1246
