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更新日期:2023-10-20
简要描述:
日本kjtd超声波探伤可视化设备SDSⅢ系列
有两种在不破坏材料内部的情况下记录图像的方法:X射线探伤和超声探伤。我们正在开发结合了超声波探伤仪和图像处理设备的超声波探伤仪。
日本kjtd超声波探伤可视化设备SDSⅢ系列
有两种在不破坏材料内部的情况下记录图像的方法:X射线探伤和超声探伤。我们正在开发结合了超声波探伤仪和图像处理设备的超声波探伤仪。
超声波探伤仪的应用范围是检测半导体内部的裂纹,区分粘附和剥离,检测新材料(例如精细陶瓷和复合材料)的空隙和分层,或对飞机上使用的加工零件进行z终检查。它已经非常广泛,并且已经成功地检查了异种金属的接合面。
SDSⅢ系列是一种超声波探伤可视化设备,它融合了新的超声波探伤技术和图像处理技术。配备了z初由KJTD开发的新高速宽带超声探伤仪HIS3。
Windows进行的图像分析使其更易于使用。
在探伤扫描期间,实时显示C范围或B,C范围,并且在扫描完成后,可以通过原始图像处理来执行分析和评估。除了回波高度和光路显示之外,我们的原始MURAI处理方法还可以在监视器上以二进制,2色,16色或256色各种灰度显示以及目标缺陷的形式显示在监视器上。可以更清晰地获得图像。
日本kjtd超声波探伤可视化设备SDSⅢ系列
超声波探伤仪 HIS3 HF |
脉冲输出 | -200V(空载) |
脉冲星下降时间 | 1.0ns以下 | |
接收带 | 1-300 / 5-300MHz | |
增益调整范围 | 0-71dB / 1dB | |
光路测量 | 0-40.96微秒 | |
CPU控制 | 并行I / O,每个RS232C | |
扫描仪 (6轴扫描仪标准规格) |
扫描范围(mm) | X:500mm Y:400mm Z:300mm R /转盘φ300θ1 / 110°θ2/±45° |
扫描速度 | z大300mm /秒 | |
扫描间距 | 0.01至9.99毫米/秒(XYZ) 0.02至9.98°(R:转盘) |
|
扫描方式 | 平面,侧面,坡度,R面(卡马霍形状),圆柱,球面,连续 | |
其他 | 扫描区域示教,点动遥控功能 | |
数据处理 | 数据收集点 | z多200,000,000点(一次扫描记录) |
数据存储 | ①硬盘②DVD-RW③USB端口 | |
保存设置条件 | HD(故障检测器和扫描仪设置)等 | |
图像处理软件 | 渐变显示: 两种颜色之间256级(从1600万种颜色中选择可选,包括黑色和白色) 16个色阶,256个RYB阶 回声等级: 声压级,深度级,MURAI级 实时处理: 平面图像,横截面图像,tou视图图像,立体图像,线框精密缺陷检测(放大缺陷检测),图像内测量,放大,光标位置,面积比,设置显示,回波高度显示,回波高度tou视,点数据读取等 局域网兼容 |