日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES

日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES

产品特点

易于携带和测量的手提式薄层电阻测量仪：DUORES

根据测量目标交换并使用两种类型的探头（非破坏性和接触型）。

•世界首chuang的便携式薄层电阻测量装置，可以替换和使用两种类型的探头（非破坏性和接触型） •
只需放置/应用探头即可自动进行测量
•电池连续工作时间：24小时（*电池）使用时）
•显示的数据数量：z多100（*从新数据显示）

•保存的数据数量：z多50,000（*软件显示）
•测量数据传输功能：USB-Mini
•显示：3种类型的显示单位（Ω/□，S /□，n / m [金属膜厚度转换]）， 4位浮点少数点（0.000至9999）

日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES

测量规格

测量目标

薄膜，玻璃，纸材料等
通常，可以在测量范围内测量任何样品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低电子玻璃
•碳纳米管，石墨烯材料
•金属材料（纳米线，网格，网眼）
•其他

测量尺寸

不论尺寸和厚度如何均可测量
（*大于每个探头的测量点尺寸）

<测量点>

・无损探棒（涡电流型）：φ25mm

・接触式探头（4种探头类型）：9毫米

测量范围

・无损探棒（涡电流法）：0.5 -200Ω/ sq
・接触探棒（4探针法）：0.1 -4000Ω/ sq