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更新日期：2022-07-18
简要描述：
日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪
Napson 4探针测量系统使用了盒式磁带（*为Jandel的原始类型）。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和小模块类型。
日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪
<探头头类型>
Napson 4探针测量系统使用了盒式磁带（*为Jandel的原始类型）。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和小模块类型。
Napson的4探针法电阻/薄层电阻测量仪器使用由Jandel（UK）制造的高精度4探针探头。
Jandel探头z适合用于测量需要高精度的半导体和金属薄膜的电阻和薄层电阻，并且已经经过了多年的高度评估。
*由于使用了V型弹簧，因此触针压力始终稳定。
*上下均使用珠宝导板来固定探头，因此具有出色的针间精度和稳定性。
*轴和刀头是一体的，因此对刀头的损坏很小，并且具有出色的耐用性。
日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪
根据材料，表面条件和待测样品的形状选择类型。
<推荐参考示例>
| 目标样品 | 探头 （材料/尖duan半径） |
测针压力/书本 |
| 硅锭块 | TC-40u | 200克 |
| 硅片 | TC-40u | 200克 |
| 虾结构层 | TC-150u | 100克 |
| 薄外延层 | TC-150u，500u | 50克 |
| 薄层如浅扩散 | OS-200u，500u | 50克 |
| 扩散层 | OS-200u，TC-150u | 100克 |
| 离子黑斑 | TC-150u | 50克，100克 |
| 金属薄膜 | TC-150u，500u | 25g，50g，100g |
| ITO膜 | TC-150u，500u | 25g，50g，100g |
*可以使用上述以外的样品进行测量（导电）。
*也可以使用其他类型。
*也可根据要求提供特殊规格。
（关于产品编号）
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-针
材料：TC;碳化钨（OS; alloy合金）-
针尖半径：40μm（可能在25μm至500μm之间）-
针压力（g /书）：200克（可能10克至250克）-
针间距：1.00毫米（可能0.5毫米至1.59毫米）-针
排列：线性（标准）（可能是正方形）
