访问次数:661
更新日期:2022-08-22
简要描述:
日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216
消除测量者的偏差舒适,准确地测量1μm或更小的超薄膜
类型 | 数字式 | 测量范围 | 1 |
---|
日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216
消除测量者的偏差舒适,准确地测量1μm或更小的超薄膜
* 1线性度是
显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。 位移量
为±0.2%
/ 100μm±0.2μm
位移量/ 500μm±1μm
位移量/ 1000μm±2μm
(测量误差因位移量而异)
* 2根据被测物体的材质,测量范围可能会改变。
*注意* HKT-1240已因放大器单元的停产而停产。HKT-1216将替代HKT-1240。