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日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L

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更新日期:2023-08-20

简要描述:

日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L
D,F,G,J,K类,兼容超小型芯片(0201、03015),包带机

日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L
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日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L

D,F,G,J,K类,兼容超小型芯片(0201、03015),包带机

  • 0201,03015尺寸超小型芯片兼容(测量功率0.02W以下/测量端子开路电压9V以下)

  • 配备自清洁功能的测试探头

  • 超高速0.7毫秒(代表值)

  • 通过静态功率抵消测量实现高精度和高稳定性

  • 通过对每个范围进行测量值积分时间设置功能,实现超高速和高稳定性测量

  • %测量:-99.99%〜+ 25.00%[5mΩ〜109MΩ]

  • 值测量:0.00mΩ〜125.00MΩ

  • 接触检查:测量前/测量后/ OFF

  • RS-232C接口标准设备(GP-IB是可选的)

  • 打印机输出标准设备(与Centronics兼容)

  • 设置值传送功能作为标准设备:(相同的设置数据可以传送到另一台AE-162D并自动设置)

  • 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备

校准后180天[校准后1年:1.5倍]的测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)

日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L

测量范围 标准值设定范围 实测电流 测量精度*
快速
100毫欧 5mΩ-100mΩ 100毫安 ≤±0.02%±2a±2d ≤±0.03%±3a±2d±[2 /(1 + n)] d
100.1mΩ〜1Ω 100毫安 在±0.02%±a±1d之内 ≤±0.02%±a±2d±[2 /(1 + n)] d
10Ω 1.001Ω〜10Ω 30毫安
100Ω 10.01Ω-100Ω 10毫安 ±0.02%±1d以内 在±0.02%±2d±[1 /(1 + n)] d之内
1kΩ 100.1Ω〜1kΩ 3毫安
10kΩ的 1.001kΩ〜10kΩ 0.5毫安
100kΩ的 10.01kΩ-100kΩ 50微安
1兆欧 100.1kΩ〜1MΩ 5微安 在±0.05%±2d±[1 /(1 + n)] d之内
10兆欧 1.001MΩ〜10MΩ 0.5微安 ±0.03%±1d以内 在±0.2%±4d±[1 /(1 + n)] d之内
100兆欧 10.01MΩ〜109MΩ 0.05微安 ±0.1%±2d以内 ───

* D =数字,n =积分时间(毫秒),
%测量:α=(100 /标准设定值mΩ)x 0.01%,
值测量:α= 0(加±1d),
**屏蔽状态下的精度

测量时间 外部启动 自由奔跑
快速 快速
大约18毫秒-400毫秒 大约0.7毫秒-400毫秒 约30次/秒〜
约2次/秒
约60次/秒〜
约2次/秒
实测功率 0.02W以下
测量端子开路电压 9V以下
测量结束信号(EOC)脉冲宽度 1到250毫秒,并且可以连续设置
测量方式 4端子测量/ 2端子测量可切换
判断值设定范围 %测量:-99.99%至+ 25.00%,值测量:00000至12500
周边环境 温度:0°C至+ 50°C,湿度:80%以下
需要电源 AC85V〜265V,50Hz〜60Hz,约50VA
外形尺寸 333(w)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起)
重量 约3.5kg
选项 ・ GP-IB
・数据传输线
・短接(零欧姆标准电阻)
・转换适配器(3P x2⇒5P)


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