日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-163L

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更新日期：2023-08-20

简要描述：

日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-163L
超小尺寸芯片（0 2 0 1，0 3 0 1 5 ...）
兼容精密级电阻器！
B，C，D，F，G，J，K级，芯片，熔炉，径向，轴向电阻分选机和编带机的理想选择

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日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-163L

超小尺寸芯片（0 2 0 1，0 3 0 1 5 ...）
兼容精密级电阻器！
B，C，D，F，G，J，K级，芯片，熔炉，径向，轴向电阻分选机和编带机的理想选择

特性

校准后90天[校准后1年：两倍]的测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C）

日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-163L

测量范围	标准值设定范围	实测电流	测量精度^*
测量范围	标准值设定范围	实测电流	慢 [高分辨率]	慢 [低分辨率]	快速 [Lo-Reso。]
100毫欧	5mΩ-100mΩ	180毫安	±0.01％±α±10d以内	在±0.02％±α±2d之内	≤±0.03％±2α±3d±[2 /（1 + n）] d
1Ω	100.1mΩ〜1Ω	90毫安	≤±0.006％±2β±3	±0.02％±α±1d以内	在±0.02％α±2d±[2 /（1 + n）] d之内
10Ω	1.001Ω〜10Ω	9毫安	≤±0.006％±2β±3	±0.02％±α±1d以内	在±0.02％α±2d±[2 /（1 + n）] d之内
100Ω	10.01Ω-100Ω	9毫安	±0.005％±3d以内	±0.02％±1d以内	在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之内
1kΩ	100.1Ω〜1kΩ	0.9毫安
10kΩ的	1.001kΩ〜10kΩ	0.45毫安
100kΩ的	10.01kΩ-100kΩ	45微安
1兆欧	100.1kΩ〜1MΩ	4.5微安	在±0.009％±3d之内		在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之内
10兆欧	1.001MΩ〜10MΩ	0.45微安	±0.02％±10d以内	±0.03％±1d以内	在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之内
100兆欧	10.01MΩ-100MΩ	45nA	±0.1％±20d以内	±0.1％±2d以内	---

* D：数字，n：积分时间（毫秒），应用Lo-Reso。测量值时（加±1d）当
测量百分比时：α=（100 /标准设置值mΩ）x 0.01％，
当测量值时，β=（范围/标准设置值）x 0.001％：α，β= 0
**屏蔽状态下的精度

测量时间	外部启动		自由奔跑
	慢	快速	慢	快速
	AC1周期+ 7.5 毫秒〜408毫秒	大约11.5 毫秒〜408毫秒	约5次/秒〜约2次/秒	约10次/秒〜约2次/秒