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更新日期：2022-08-22
简要描述：
日本中央电机cew微缺陷检测设备
使用高分辨率相机和高精度XY载物台的二维检查设备。
适用于检查光学膜，片，触摸面板等的表面划痕，异物和缺陷。
| 类型 | 无损伤 |
|---|
日本中央电机cew微缺陷检测设备
使用高分辨率相机和高精度XY载物台的二维检查设备。
适用于检查光学膜，片，触摸面板等的表面划痕，异物和缺陷。
光学分辨率为“ 1.8μm”，可以进行超高清检查。
它也可以用于尺寸测量，并且可以检查二维冲压产品。
用于检查触摸屏和异物等缺陷！
| 外形尺寸 | 1000 x 1200 x 1080毫米 |
|---|---|
| 重量 | 400公斤 |
| 测量范围 | 600 x 400毫米 |
| 被测物体的高度 | 30毫米 |
| 光学分辨率 | 1.8微米 |
| 控制分辨率 | 1.0微米 |
| 重复定位精度 | ±5微米 |
| 光学倍率 | 2次 |
| 视场 | 6.3毫米x 5.0毫米 |
| 监视器 | TFT 23.6型宽 分辨率：1920 x 1080像素 |
| 相机 | CCD单色1英寸 像素数：900万像素 |
| 镜片 | 远心镜头 WD：65毫米 景深0.095毫米 |
| 照明 | 同轴落射照明 |
| 电源 | AC100V 50/60赫兹 |
| 开发语言 | LabVIEW |
日本中央电机cew微缺陷检测设备
光学分解能1.8μｍ・スピード検査 タッチパネス周辺電極・基板表面など、微細欠陥の検査が可能
高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査装置です。
光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。
光学分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。
寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。
