日本Japan Sensor薄膜辐射温度计

类型	其他	测量范围	1

日本Japan Sensor薄膜辐射温度计TMHX-CFE0350（E）系列

胶片辐射温度计TMHX-CFE0350（E）系列是专门用于胶片的辐射温度计。测量波长主要适合于聚烯烃膜的温度测量。

用于测量基于聚烯烃的薄膜（PP，PE等）

专门用于胶片的辐射温度计。测量波长主要适合于聚烯烃膜的温度测量。

〜TMHX-C系列的共同特征〜
◆性能和稳定性大大提高◆易于对准测量部件◆任何安装环境◆
各种各样的指示器和设置装置◆降低成本◆使用寿命长◆符合CE标记的产品

模型	温度范围	有效波长	实测距离	目标尺寸	反应速度
TMHX-CFE0350-0200E012	80-350℃	3.4微米	200毫米	φ12毫米	0.05秒〜

产品特点

• 专为基于聚烯烃的薄膜（PP，PE等）的温度测量而开发

  

  塑料薄膜是一种选择性辐射体，其透射和吸收（辐射）在特定波长下会发生显着变化。由于在具有高透射率的波长处发射率低，因此不能很好地执行温度测量。

  因此，有必要在吸收（辐射）大的波长=吸收波长带中进行测量。
  TMHX-CFE0350（E）系列使用3.4μm聚烯烃薄膜的吸收波段作为测量波长，以实现高精度的温度测量。

  （聚烯烃膜=氯乙烯，聚乙烯，聚丙烯，聚苯乙烯等）

• 通过采用InSb（锑化铟）元素，可以大大提高性能和稳定性。

  传统的热电堆元件将红外线转换成热量，然后将其转换成电信号，因此缩短响应时间是有限制的，但是TMHX系列使用InSb（锑化铟）元件直接转换红外线，直接转换为信号。 。在室温测量中，实现了世界上z快的响应时间，并且显着缩短了测量时间。

  

  它还具有显着提高的稳定性。由于InSb（锑化铟）元素使用2至6.8μm之间的短波长，因此在测量金属（铁，SUS，铬等）的温度时，可以预期其发射率设定值几乎是以前的两倍。 ，可以期待进一步的稳定性。

日本Japan Sensor薄膜辐射温度计TMHX-CFE0350（E）系列

模型	TMHX-CFE0350-0200E012
温度范围	80℃〜350℃
有效波长	3.4微米
检测元件	铟锑
标准测量距离	200mm *可以在其他距离使用。请参考光路图。
标准目标尺寸	φ12毫米
目的	LED瞄准
准确率评估	±4℃
重现性	±1℃
测量分辨率	小于120℃；小于等于1℃，大于等于120℃；小于等于0.5℃
响应时间（随平滑功能而变化）	0.05-5s（0-95％模拟输出）
热身时间	1分钟
模拟量输出（非绝缘）输出类型（开关）	DC4〜20mA，DC0〜20mA，mV /℃，DC0〜1V（可选0〜5V，0〜10V可用）
RS232C输出（符合RS232C，非绝缘）	输出摆幅：大约±4V，通讯速度：4800,9600,19200,38400,57600,115200 bps
报警输出（非绝缘）	开漏：DC27V，0.2A
峰值保持	复位方法（选择）[1]时间：0.01到10s变量[2]放电：时间0.01到10s，级别0.2到1.0
发射率校正	保证范围0.3到1.0 设置范围0.050到1.000（设置分辨率0.001）带有 反射校正功能
传感器校正功能	跨度; 0.500至2.000 零; -50至+ 50°C（°F）
使用的环境温度和湿度	0至50°C（存储环境温度：-15至70°C）/ 30至85％RH（无冷凝）
电源电压	DC4.7至27V，z大0.1A 模拟输出0至5V; 8至27V / 0至10V ; 13至27V
电缆长度（标准）	2m
方面	HX-C1