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更新日期：2021-04-14
简要描述：
日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160
OURSTEX 160型被选为东京都政fu于2006年3月执行的《环境安全条例》中用于土壤污染调查（重金属等）的简单快速分析技术（简单分析方法）。
| 产品种类 | 便携 |
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日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160
OURSTEX 160型被选为东京都政fu于2006年3月执行的《环境安全条例》中用于土壤污染调查（重金属等）的简单快速分析技术（简单分析方法）。
■用于工厂现场的土壤分析... ●可以进行无损且快速的成分分析。 ●紧凑轻巧，因此可以进行现场分析。 ●提高了针对中，重金属元素的灵敏度。 ●Utility仅适用于AC100V-5A。 ●设备内部是受控区域。
能量色散X射线荧光分析仪用来自X射线管的原始X射线辐照样品，并使用半导体检测器测量产生的X射线荧光，因此无论样品的形状如何，它都是非破坏性的元素定性的。样品。・进行定量分析。
半导体检测器使用不需要液氮冷却的电子冷却的硅漂移检测器（SDD），并且可以与数字计数电路（DSP）结合使用以测量高分辨率和高计数率。
为了提高分析性能，准备了可以使能量分辨率和半导体检测器的计数灵敏度z大化的激发光学系统的条件。
日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160
| 测量原理 | 能量色散X射线荧光分析方法 |
| 测量目标 | 用于土壤分析的环境样品（固体/粉末/液体） |
| 测量元件 | 硫，铬，砷，硒，镉，汞，铅（13 AI- 92 U） |
| 样品形状 | z大78mmφx 55mmH |
| 样品室气氛 | 气氛 |
| X射线额定输出 | 48kV，2mA高达50W |
| 探测器 | 电子冷却的硅漂移检测器 |
| 计数电路 | 数字处理方式 |
| 使用条款 | 温度：5至27°C 湿度：20至75％ 电源：AC100V，5A（50 / 60Hz） 接地：D类接地 |
| 其他（可选） | 喷墨彩色打印机，鼠标 |
