产品展示
PRODUCT DISPLAY
产品展示 您现在的位置:首页>产品展示>物理性能检测>膜厚计>自动膜厚测量系统 测厚仪

自动膜厚测量系统 测厚仪

访问次数:1429

更新日期:2023-10-20

简要描述:

日本filmetrics自动膜厚测量系统F50
F50自动测绘膜厚测量系统是将基于光学干涉原理的膜厚测量功能与自动高速载物台相结合的系统。
以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率。它支持从2英寸到450毫米的硅基板,并且可以任何测量点。

自动膜厚测量系统 测厚仪
类型 数字式 测量范围 1

日本filmetrics自动膜厚测量系统F50

F50自动测绘膜厚测量系统是将基于光学干涉原理的膜厚测量功能与自动高速载物台相结合的系统。
以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率。它支持从2英寸到450毫米的硅基板,并且可以任何测量点。
还有与大型玻璃基板兼容的可选产品。

主要特点

  • 结合基于光学干涉原理的膜厚测量功能和自动高速载物台的系统

  • 以过去无法想象的速度测量点的膜厚和折射率

  • 兼容2英寸至450毫米的硅基板,可任何测量点

日本filmetrics自动膜厚测量系统F50

主要应用

半导体
抗蚀剂、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、抛光硅片、化合物半导体衬底、ⅬT衬底等。
平板 单元间隙、聚酰亚胺、ITO、AR膜、
各种光学膜等。
薄膜太阳能电池 CdTe、CIGS、非晶硅等
砷化铝镓(AlGaAs)、磷化镓(GaP)等

测量示例

薄膜厚度分析 FIL Mapper 软件具有强大而*的薄膜厚度分析算法和可以让您轻松测量点的功能。


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
联系方式
  • 电话

  • 传真

在线交流
Baidu
map