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更新日期:2023-09-19
简要描述:
日本collet激光3D测量的温控器LMT-S系列
该腔室适用于使用激光坐标测量机对半导体封装、裸芯片、印刷电路板和各种材料等因 -120°C 至 350°C 的温度变化而导致的热变形进行非接触式测量。
类型 | 其他 | 测量范围 | 1 |
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日本collet激光3D测量的温控器LMT-S系列
该腔室适用于使用激光坐标测量机对半导体封装、裸芯片、印刷电路板和各种材料等因 -120°C 至 350°C 的温度变化而导致的热变形进行非接触式测量。
样品室名称 | C-705 | C-707 | C-710 | C-715 |
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腔体模型 | S-5-50L | S-5-70L | S-5-100L | S-5-150L |
测量温度 | -120 ℃ ⇔ 350 ℃ | -100 ℃ ⇔ 350 ℃ | -80 ℃ ⇔ 350 ℃ | -50 ℃ ⇔ 350 ℃ |
样本量 (MAX) | 50mm | 70mm | 100mm | 150mm |
样品尺寸(厚度) | 10mm() | |||
工作距离 | 15 毫米或更多 | |||
安装示例 | 从顶部安装 | |||
样品气氛 | 气氛、惰性气体气氛 | |||
观察窗(石英玻璃) | 50mm | 70mm | 100mm | 150mm |
观察窗(厚度) | 1.0mm | |||
观察窗(材质) | 石英玻璃 | |||
供水能力 | 城市用水2L/分钟 | |||
水冷机制 | 风冷水冷循环装置(OP) | |||
主体及顶盖材质 | 铝合金 | |||
舞台材料 | 银色/不锈钢 | |||
尺寸(毫米) | W160XD160XH53 | W160XD160XH53 | W190XD190XH53 | W250XD250XH53 |
重量(公斤) | 3.8 | 4.2 | 4.8 | 6.5 6.5 |