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软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2

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更新日期:2022-08-22

简要描述:

日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2
高测量分辨率
由于它是非接触式,因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。
即使表面状况粗糙,也可以进行测量。
基重测量
操作简单(具有自动介电常数设置功能)

软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2
类型 数字式 测量范围 1

日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2


产品特点
  • 高测量分辨率

  • 由于它是非接触式,因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。

  • 即使表面状况粗糙,也可以进行测量。

  • 基重测量

  • 操作简单(具有自动介电常数设置功能)

  • 模型 TOF-C2 * TOF-C的后继机型
    测量方法 非接触式/电容式
    测量对象 薄膜、粘性保护膜、防尘膜
    测量原理 电容式

    日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2

  • 产品规格
    测量厚度 ~ 500 微米
    测量长度 10 至 10000 毫米
    测量间距 1 毫米 ~
    小显示值 0.01微米
    电源电压 AC100V 50 / 60Hz
    工作温度限制 5-40°C(测量时温度变化1°C以内)
    湿度 35-80%(无冷凝)


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